GB／T 5677-2018  鑄件 射線照相檢測(cè)

6.2.8.1暗室的溫度應(yīng)控制在18℃～25℃，設(shè)有通風(fēng)裝置，分為干區(qū)”與“濕區(qū)”，“干區(qū)”的相對(duì)濕度 應(yīng)控制在30%60%。 6.2.8.2應(yīng)根據(jù)膠片供應(yīng)商的推薦，使用安全紅燈和紅燈濾光片，安全紅燈的安全性一般每年檢查 次，當(dāng)更換燈泡或?yàn)V光片時(shí)，應(yīng)同時(shí)進(jìn)行安全性檢查。簡(jiǎn)易的檢查方法為：切一條膠片，放在平時(shí)切包裝 膠片距安全紅燈最近的位置上，一半用黑紙遮擋，另一半暴露在安全紅燈下，暴露時(shí)間不少于切包裝膠 片所需的最長時(shí)間，然后，按實(shí)際使用的程序進(jìn)行暗室處理，測(cè)量?jī)蛇叺暮诙戎�，其差值�?yīng)不高于0.05。

相的輻射防護(hù)應(yīng)遵循GB18871、GBZ117、GBZ

.1除非協(xié)議或合同中有特殊規(guī)定，應(yīng)按照書面工藝文件進(jìn)行射線檢測(cè)，合同雙方應(yīng)商定書面工 牛的具體要求。工藝文件包括工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書。

a) 適用范圍； b) 設(shè)備儀器及材料； c) 射線照相技術(shù)等級(jí)： d) 透照技術(shù)； 透照方式；

硬度標(biāo)準(zhǔn)a) 適用范圍； b) 設(shè)備儀器及材料； c) 射線照相技術(shù)等級(jí)； d) 透照技術(shù)； 透照方式；

射線能量的選擇； g） 膠片與增感屏的選擇； h) 散射線的控制； i） 放射源到工件的最小距離； j 曝光量； k） 像質(zhì)計(jì)的使用； 1） 暗室處理方法或條件； m） 底片觀察技術(shù)。 3.3操作指導(dǎo)書應(yīng)由2級(jí)及以上人員編制，首次使用的操作指導(dǎo)書應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，以驗(yàn)證底 是否能夠達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。操作指導(dǎo)書中應(yīng)至少包含如下內(nèi)容： a） 鑄件名稱、圖號(hào)及材料種類； b） 檢測(cè)部位、表面狀態(tài)； c） 射線源種類、型號(hào)及焦點(diǎn)尺寸； d) 膠片型號(hào)； e） 暗室處理； f) 黑度范圍； g 屏蔽方式； h) 增感屏的厚度和類型； i) 像質(zhì)計(jì)類型和像質(zhì)指數(shù)； j 射線照相技術(shù)等級(jí)； k） 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、驗(yàn)收級(jí)別； 1） 透照參數(shù)：射線源至膠片距離、管電壓、管電流或射線源活度以及曝光時(shí)間； m) 布片示意圖， 注：操作指導(dǎo)書格式可參照附錄C或根據(jù)鑄件產(chǎn)品特點(diǎn)自行設(shè)計(jì)

7.1鑄件表面處理和檢測(cè)時(shí)機(jī)

7.1.1鑄件表面應(yīng)去除任何可 余物。當(dāng)要求A級(jí)技術(shù)時(shí)，切除后的澆、冒口殘余量不超過透照部位厚度的10%；當(dāng)要求B級(jí)技術(shù)時(shí) 澆、冒口應(yīng)完全切除。 7.1.2檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)滿足技術(shù)條件或合同的要求。技術(shù)條件或合同中無特殊規(guī)定時(shí)，射線檢測(cè)宜在熱處 理后、毛壞鑄件、粗加工、精加工條件下進(jìn)行

7.2.1.1應(yīng)根據(jù)鑄件的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式，應(yīng)優(yōu)先選用單壁透照方式，在 單壁透照不能實(shí)施的情況下，才允許采用雙壁透照方式， 7.2.1.2典型透照布置：圖1～圖7為簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)，圖8~圖12為復(fù)雜結(jié)構(gòu)。 7.2.1.3平面形鑄件的單壁透照，按圖1布置

獲得更佳的透照方向。 7.2.1.5平面及曲面形鑄件的雙壁透照，按圖5、圖6、圖7布置。若幾何形狀造成其他布置難以應(yīng)用或 能夠獲得更好的檢測(cè)靈敏度，可按圖7使用雙壁雙影透照方法，以確保充分檢出缺陷，影像質(zhì)量滿足要 求。對(duì)于外徑小于100mm環(huán)形鑄件，可按圖6使用雙壁雙影透照方法，每隔120°或60°曝光一次。 7.2.1.6檢測(cè)按圖6、圖7布置，缺陷應(yīng)按單壁的厚度分級(jí)，壁厚不同時(shí)，應(yīng)參照較小的壁厚。 7.2.1.7檢測(cè)按圖5布置，放射源至被檢區(qū)表面距離應(yīng)最小，像質(zhì)計(jì)應(yīng)滿足要求。

注：源位于凸面?zhèn)�，膠片位于凹面?zhèn)?

圖1平面形鑄件單壁透照

圖2曲面形鑄件單壁透照

注：源位于凹面?zhèn)饶z片位于凸面?zhèn)?

圖3曲面形鑄件單壁透照

注：源位于圓心，膠片位于外圓周

注：分段曦光.源與膠片均在兩側(cè)

圖4曲面形鑄件單壁透照

注：分段曝光，源與膠片均在兩側(cè)

圖6平面及曲面形鑄件雙壁雙影透照

注：整體賺光，源與膠片均在兩側(cè)

平面及曲面形鑄件雙壁

8邊緣和凸緣鑄件透照

GB/T 5677—2018

圖10十字形鑄件透照

7.2.2一次透照最大區(qū)域

圖12肋形加支撐結(jié)構(gòu)鑄件透照

7.2.2.1厚度均勻的一個(gè)被檢區(qū)域的外端與中心射線束的穿透厚度之比K，對(duì)于平面形鑄件，A級(jí) B級(jí)技術(shù)不應(yīng)大于1.03。對(duì)于曲面、環(huán)形、復(fù)雜結(jié)構(gòu)鑄件，B級(jí)技術(shù)不應(yīng)大于1.1，A級(jí)技術(shù)不應(yīng)大于 .2，環(huán)形鑄件通過K值確定的最少透照次數(shù)N的圖表參照附錄D 7.2.2.2若缺陷的取向特殊或此方法為能夠檢測(cè)的唯一方法，K值可以適當(dāng)放大，由合同雙方商定

一般射線束應(yīng)對(duì)準(zhǔn)被檢區(qū)中心，并在該點(diǎn)與被檢鑄件表面垂直；需要時(shí)也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的 方向透照。

7.2.4變截面透照技術(shù)

對(duì)于截面厚度變化較大的鑄件，在滿足規(guī)定的影像質(zhì)量要求前提下，增大有效透照區(qū)，減少曝光次 數(shù)，其技術(shù)方法如下： a 多膠片法：允許同一暗袋中放兩張或多張感光速度相同或不同的膠片同時(shí)曝光 b） 提高射線能量法：適當(dāng)提高管電壓；使用射線源或加速器代替X射線源（只適合A級(jí)技術(shù)）； 厚度補(bǔ)償法：用補(bǔ)償塊、補(bǔ)償粉、補(bǔ)償泥、補(bǔ)償液等填補(bǔ)鑄件較薄部分（只適合A級(jí)技術(shù)）。

7.3.1500kV及以下X射線源的選擇

7.3.1.1使用不高于500kV的X射線機(jī)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，在保證穿透力的前提下，應(yīng)盡可能采取較低的管 電壓，允許的最高管電壓與材料的透照厚度之間的關(guān)系見圖13。 7.3.1.2采用提高射線能量法檢測(cè)變截面鑄件時(shí)，可以將圖13中的最高管電壓適當(dāng)提高。對(duì)鋼、銅及 銅合金、鎳及鎳合金材料，管電壓最大允許提高50kV；對(duì)鈦及鈦合金材料，管電壓最大允許提高 40kV：對(duì)鉛及鋁合金材料，管電壓最大允許提高30kV

說明： 銅及銅合金或鎳及鎳基合金

7.3.2其他射線源的選擇

源和1MeV以上X射線裝置所允許的透照厚度

13不同透照厚度允許的X射線最高透照管電壓

表2射線源和能量1MeV以上X射線設(shè)備透照厚度范圍（鋼、銅及鎳基合金等）

7.3.3射線源的使用

7.4膠片和增感屏的選擇

7.4膠片和增感屏的選

.1應(yīng)根據(jù)射線技術(shù)級(jí)別和使用射線源類型或能量按表3和表4選用合適的膠片類別及增感屏材 #度。 2使用膠片與增感屏?xí)r，應(yīng)使膠片與增感屏之間緊貼

風(fēng)、銅、鎳合金射線照相所適用的膠片系統(tǒng)類別和

可使用更好的膠片系統(tǒng)類別， 若使用前屏≤0.03mm的真空包裝膠片，可在工件與膠片之間加0.1mm附加鉛屏。 A級(jí)也可以用0.5mm~2mm鉛屏， 經(jīng)合同雙方協(xié)商，A級(jí)可以用0.5mm~1mm鉛屏。 經(jīng)合同雙方協(xié)商，可以用鎢屏

GB/T5677—2018表4鋁、鈦射線照相所適用的膠片系統(tǒng)類別和金屬增感屏膠片系統(tǒng)類別金屬增感屏類型和厚度/mm射線種類A級(jí)B級(jí)A級(jí)B級(jí)X射線(≤150kV)不用屏或用鉛前屏≤0.03；后屏≤0.15X射線(>150kV~250kV)鉛屏（前后)0.02～0.15X射線(>250kV~500kV)C5C3鉛屏（前后)0.1～0.2Yb169鉛屏（前后)0.02～0.15Se75鉛前屏0.2″；后屏0.1～0.2可使用更好的膠片系統(tǒng)類別。1可以用0.1mm鉛屏附加0.1mm濾光板，取代0.2mm的鉛屏。7.5散射線控制7.5.1為減少散射線的影響，可利用鉛光闌限制一次射線束的大�。皇褂蒙渚�透照應(yīng)采取濾光板，按工件厚度，濾光板的厚度應(yīng)選擇在0.5mm～2mm之間。7.5.2使用適當(dāng)厚度的鉛板（至少1.0mm）放在暗袋的后面，有效的防護(hù)背散射。初次透照確定曝光參數(shù)時(shí)，應(yīng)檢查背散射；在暗袋與防護(hù)鉛板之間放一個(gè)鉛字母"B"（厚度≥1.5mm，高度≥10mm），若底片上出現(xiàn)低于周圍背景黑度的“B”字影像，說明背散射防護(hù)不足，需增加防護(hù)鉛板的厚度。若底片上出現(xiàn)高于周圍背景黑度的“B”字影像或不出現(xiàn)影像，說明背散射防護(hù)符合要求。底片上高于周圍背景黑度的“B”字影像，只要不遮掩底片影像或與缺陷混淆，底片可以使用。7.6源至工件的最小距離7.6.1源至工件最小距離min與射線源的有效焦點(diǎn)尺寸d和工件至膠片距離6有關(guān)。7.6.2源至工件距離f的選擇，應(yīng)使f/d符合下列要求：A級(jí)技術(shù)：f/d≥7.5·(b)2/3·(1 )B級(jí)技術(shù)：f/d≥15·(b)2/3·(2)7.6.3根據(jù)式（1）、式（2)確定fmi值的方法制成的諾模圖見圖14。7.6.4利用圖14諾模圖來確定源至工件最小距離fmin，有效焦點(diǎn)尺寸d按附錄E的規(guī)定計(jì)算。7.6.5當(dāng)6<1.2t時(shí)，式（1）、式（2)及圖14中的6可用公稱厚度t取代；采用雙壁單影透照，b取一個(gè)公稱厚度t；采用雙壁雙影透照，b取其外徑。7.6.6采用A級(jí)技術(shù)時(shí)，若需檢查平面型缺陷，應(yīng)按B級(jí)技術(shù)確定fmin值，即為A級(jí)技術(shù)確定的fmin值的2倍。7.6.7對(duì)裂紋敏感度大的材料有更為嚴(yán)格的技術(shù)要求時(shí)，應(yīng)選用靈敏度比B級(jí)更優(yōu)的技術(shù)進(jìn)行透照。7.6.8采用源在內(nèi)圓心透照方式周向曝光時(shí)（見圖4），在滿足底片質(zhì)量要求的前提下，fmin值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。7.6.9采用源位于凹面?zhèn)饶z片位于凸面?zhèn)葍?nèi)單壁透照方式曝光時(shí)（見圖3），在滿足底片質(zhì)量要求的前提下，fi值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%。13

4確定射線源至工件表面最小距離f.的諾模圖

1X射線照相，焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為：A級(jí)技術(shù)不小于15mA·min，B級(jí)技術(shù) 于20mA·min，焦距變化時(shí)可按平方反比定律進(jìn)行換算 .2射線源照相，將源由源容器至預(yù)定曝光位置的往返時(shí)間盡量短，不應(yīng)超過總曝光時(shí)間10%。

7.8.1對(duì)于每臺(tái)在用的射線設(shè)備都應(yīng)繪制出常用被檢材料的曝光曲線，按照曲線確定曝光參數(shù)。 7.8.2制作曝光曲線所用有膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及靈敏度、黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本 標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定。 7.8.3每年應(yīng)至少對(duì)使用中的曝光曲線校驗(yàn)一次，若對(duì)射線透照參數(shù)有影響的設(shè)備部件進(jìn)行更換和修 理，應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)

7.9.1.1由識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成，一般由適當(dāng)尺寸的鉛（或其他高密度材料）制成的數(shù)字、拼音字母 和符號(hào)等構(gòu)成， 7.9.1.2定位標(biāo)記在底片上應(yīng)明顯標(biāo)識(shí)檢測(cè)范圍，并不影響底片評(píng)定。當(dāng)射線檢測(cè)覆蓋整個(gè)被檢區(qū)，采 用兩張或多張膠片一次透照時(shí)，膠片間搭接標(biāo)記，通常用“個(gè)”符號(hào)表示。每張底片定位標(biāo)記，與鑄件 一對(duì)應(yīng)，清晰可見。 7.9.1.3識(shí)別標(biāo)記應(yīng)確保底片標(biāo)識(shí)的唯一性，至少包括以下信息：

a） 檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室的名稱和代號(hào)； 曝光日期； c 透照的鑄件、部位； d 首次或返修透照。 注：返修透照以"R”作標(biāo)記，后面跟相應(yīng)的透照次數(shù)（如：R1為第一次透照，R2為第二次透照）

工件表面宜作出永久性標(biāo) 日準(zhǔn)確定位：若鑄件的性質(zhì)或便用條件不準(zhǔn)設(shè) 表面作永久性標(biāo)記時(shí)，應(yīng)采用準(zhǔn)確的底片 分布圖米記錄

7.10.1像質(zhì)計(jì)的放置

7.10.1.1一般情況下，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放在鑄件被檢區(qū)的源側(cè)表面邊緣，當(dāng)在一張膠片上同時(shí)透照多個(gè)工件 時(shí)，應(yīng)在靠近邊緣的一個(gè)鑄件上放置像質(zhì)計(jì)，線型像質(zhì)計(jì)的最細(xì)絲居于外側(cè)。 7.10.1.2若鑄件上不能放置像質(zhì)計(jì)，可將像質(zhì)計(jì)放在材料和厚度與鑄件被檢區(qū)相同的墊塊上（平面尺 寸不小于100mm×100mm），盡可能靠近被檢鑄件，像質(zhì)計(jì)到膠片的距離不小于鑄件射線源側(cè)表面到 膠片的距離。 7.10.1.3像質(zhì)計(jì)不能放置在射線源一側(cè)，也不能使用墊塊的情況下，可將其放置在膠片側(cè)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì) 上適當(dāng)位置放置鉛字“F”標(biāo)記，并注明在檢測(cè)報(bào)告中。單壁透照應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)，確定出膠片側(cè)像質(zhì) 指數(shù)

7.10.2像質(zhì)計(jì)數(shù)量

原則上每張底片都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)影像，符合以下情況充許增減像質(zhì)計(jì)： a 底片有效評(píng)定區(qū)的黑度變化超過像質(zhì)計(jì)所在處黑度的一15%～十30%時(shí)，需使用2個(gè)像質(zhì)計(jì)， 一個(gè)像質(zhì)計(jì)放在黑度最大部位表面，另一個(gè)像質(zhì)計(jì)放在黑度最小部位表面，均要達(dá)到靈敏度的 要求，最大和最小黑度值符合7.13.1的規(guī)定， b） 對(duì)于圓環(huán)形和平面形鑄件，曝光使用幾個(gè)暗袋時(shí)，至少有1個(gè)像質(zhì)計(jì)放在源側(cè)透照區(qū)邊緣工件 的表面上。對(duì)圓環(huán)形鑄件，圓心周向100%噪光時(shí)，至少使用3個(gè)像質(zhì)計(jì)間隔120°放置；使用 4個(gè)以上的暗袋，對(duì)部分圓周進(jìn)行曝光時(shí)，至少使用3個(gè)像質(zhì)計(jì)，其長度的每端應(yīng)放置1個(gè)像 質(zhì)計(jì)，中間放置1個(gè)像質(zhì)計(jì)， 當(dāng)單個(gè)鑄件排成圓周進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)，每個(gè)鑄件應(yīng)符合7.10.2a)的要求

7.10.3像質(zhì)計(jì)影像識(shí)別

7.10.3.1采用底片上能夠識(shí)別的最細(xì)金屬線或最小孔的編號(hào)來描述： a 使用線型像質(zhì)計(jì)時(shí)，對(duì)于厚度均勻的區(qū)域，能夠清晰地著到連續(xù)的最細(xì)絲長度不得低于 10mm; b） 使用階梯孔型像質(zhì)計(jì)時(shí)，對(duì)于厚度均勻的區(qū)域，能夠識(shí)別最小孔，若同一階梯上有兩個(gè)孔，則 兩孔應(yīng)均可識(shí)別。 7.10.3.2在多膠片法中，如果單片所識(shí)別的像質(zhì)指數(shù)不能滿足要求，但雙片疊加滿足要求，應(yīng)用雙片評(píng) 定被檢區(qū)影像

手工處理和自動(dòng)處理均可采用，應(yīng)按膠片生產(chǎn)廠推薦的溫度和時(shí)間或自動(dòng)洗片機(jī)的使用說明對(duì)

7.12.1評(píng)片室應(yīng)整潔、安靜，室內(nèi)的光線應(yīng)暗而柔和，室內(nèi)溫度控制在18℃～25℃，濕度不宜超過 75%。 7.12.2評(píng)片人員所在處的光照度不宜超過301x，評(píng)片前應(yīng)經(jīng)歷暗適應(yīng)時(shí)間，從陽光下進(jìn)入時(shí)間不少于 5min，從室內(nèi)進(jìn)人時(shí)間不少于30s。

7.13.1.1底片評(píng)定區(qū)范圍的黑度A級(jí)在1.5～4.5，B級(jí)在2.0～4.5。 7.13.1.2底片最大黑度上限允許提高，觀片燈透過底片的亮度不應(yīng)低于10cd/m 7.13.1.3用于雙片疊加評(píng)定的單張底片，單張底片黑度應(yīng)不小于1.3。

7.13.2像質(zhì)計(jì)靈敏度

單壁透照且像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)，像質(zhì)計(jì)靈敏度應(yīng)符合表5、表6的規(guī)定。外徑小于100mm的環(huán)形 件采用雙壁雙影透照，且像質(zhì)計(jì)分別置于被檢工件源側(cè)和膠片側(cè)時(shí)，其像質(zhì)計(jì)靈敏度應(yīng)符合表7、表8 的規(guī)定。其中像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)的靈敏度，也適合于外徑大于100mm，采用雙壁單影透照像質(zhì)計(jì)置于 膠片側(cè)的情況，

像質(zhì)計(jì)靈敏度值單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)

表7線型像質(zhì)計(jì)靈敏度值雙壁透照

7.13.3.1底片上標(biāo)識(shí)應(yīng)符合7.9.1的規(guī)定。

7.13.3.1底片上標(biāo)識(shí)應(yīng)符合7.9.1的規(guī)定

7.13.3.1底片上標(biāo)識(shí)應(yīng)符合7.9.1的規(guī)定

7.13.3.2底片評(píng)定區(qū)內(nèi)不應(yīng)存在影響評(píng)定的偽缺陷，如對(duì)底片上顯示的真實(shí)性存在懷疑，應(yīng)重新透照。 采用雙片疊加評(píng)定時(shí)，若其中一張底片存在輕微偽缺陷，在能夠識(shí)別和不影響評(píng)定的前提下，不用重新 透照

底片應(yīng)在適合的溫度、濕度等環(huán)境中儲(chǔ)存，防止底片變質(zhì)或其他損壞。鑄件交付后底片儲(chǔ)存的期 地點(diǎn)應(yīng)由合同雙方協(xié)商

底片應(yīng)由2級(jí)及以上射線檢測(cè)人員評(píng)定，按合同、技術(shù)條件、圖紙或其他協(xié)議等規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) 級(jí)，確定鑄件符合或不符合。

9.1檢測(cè)記錄應(yīng)按照現(xiàn)場(chǎng)操作的實(shí)際情況，詳細(xì)記錄檢測(cè)過程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)，至少應(yīng)包括下列 內(nèi)容： a) 被檢鑄件：名稱、編號(hào)、圖號(hào)、材質(zhì)、檢測(cè)部位； 設(shè)備器材：射線源（種類、型號(hào)、焦點(diǎn)尺寸）、膠片（品牌、型號(hào)）、增感屏（類型、厚度）、像質(zhì)計(jì)（種 類、型號(hào)）、濾光板、背散射屏蔽鉛板； C） 工藝參數(shù)：檢測(cè)技術(shù)等級(jí)、透照技術(shù)、透照方式、透照參數(shù)、暗室處理方式和參數(shù)； 底片評(píng)定：黑度、像質(zhì)計(jì)靈敏度、缺陷類別和級(jí)別； e） 評(píng)定結(jié)論：評(píng)定結(jié)果、符合或不符合； 布片圖； 名 檢測(cè)人員、審核人員及資格， 9.2 檢測(cè)報(bào)告應(yīng)依據(jù)檢測(cè)記錄開出，至少包含以下的內(nèi)容： a) 被檢鑄件：名稱、編號(hào)、圖號(hào)、材質(zhì)、檢測(cè)部位； 設(shè)備器材：射線源（種類、型號(hào)、焦點(diǎn)尺寸）、膠片（品牌、型號(hào)）、增感屏（類型、厚度）、像質(zhì)計(jì)（種 類、型號(hào)）、濾光板、背散射屏蔽鉛板； C） 工藝參數(shù)：檢測(cè)技術(shù)等級(jí)、透照技術(shù)、透照方式、透照參數(shù)、暗室處理方式和參數(shù)； d) 底片評(píng)定：黑度、像質(zhì)計(jì)靈敏度、缺陷類別和級(jí)別： e 評(píng)定結(jié)論：評(píng)定結(jié)果、符合或不符合； f) 布片圖； g) 檢測(cè)人員、審核人員及資格； h) 檢測(cè)單位

內(nèi)容： a） 被檢鑄件：名稱、編號(hào)、圖號(hào)、材質(zhì)、檢測(cè)部位； b） 設(shè)備器材：射線源（種類、型號(hào)、焦點(diǎn)尺寸）、膠片（品牌、型號(hào)）、增感屏（類型、厚度）、像質(zhì)計(jì)（種 類、型號(hào)）、濾光板、背散射屏蔽鉛板； C） 工藝參數(shù)：檢測(cè)技術(shù)等級(jí)、透照技術(shù)、透照方式、透照參數(shù)、暗室處理方式和參數(shù)； 底片評(píng)定：黑度、像質(zhì)計(jì)靈敏度、缺陷類別和級(jí)別； e） 評(píng)定結(jié)論：評(píng)定結(jié)果、符合或不符合； 布片圖； g 檢測(cè)人員、審核人員及資格， 9.2 檢測(cè)報(bào)告應(yīng)依據(jù)檢測(cè)記錄開出，至少包含以下的內(nèi)容： a） 被檢鑄件：名稱、編號(hào)、圖號(hào)、材質(zhì)、檢測(cè)部位； b） 設(shè)備器材：射線源（種類、型號(hào)、焦點(diǎn)尺寸）、膠片（品牌、型號(hào)）、增感屏（類型、厚度）、像質(zhì)計(jì)（種 類、型號(hào)）、濾光板、背散射屏蔽鉛板； c） 工藝參數(shù)：檢測(cè)技術(shù)等級(jí)、透照技術(shù)、透照方式、透照參數(shù)、暗室處理方式和參數(shù)； d) 底片評(píng)定：黑度、像質(zhì)計(jì)靈敏度、缺陷類別和級(jí)別； e 評(píng)定結(jié)論：評(píng)定結(jié)果、符合或不符合； f) 布片圖； g） 檢測(cè)人員、審核人員及資格； h) 檢測(cè)單位

本標(biāo)準(zhǔn)與ISO4993:2015相比在結(jié)構(gòu)上有較多調(diào)整.具體章條編號(hào)對(duì)照情況見表A.1

度計(jì)可按照生產(chǎn)廠推薦的方法或按B.2規(guī)定的方

附錄B （規(guī)范性附錄） 光學(xué)密度計(jì)定期核查方法

B.2.1接通光學(xué)密度計(jì)外電源和測(cè)量開關(guān)，預(yù)熱10min左右。 B.2.2用標(biāo)準(zhǔn)密度片的零黑度點(diǎn)調(diào)整光學(xué)密度計(jì)零點(diǎn)，校準(zhǔn)后順次測(cè)量光學(xué)密度片上不同黑度的各點(diǎn) 的黑度，記錄測(cè)量值。 B.2.3按B.2.2的規(guī)定重復(fù)測(cè)量3次。 B.2.4計(jì)算出各點(diǎn)測(cè)量值的平均值機(jī)電標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范范本，以平均值與黑度片該點(diǎn)的黑度值之差作為光學(xué)密度計(jì)的測(cè)量 誤差。 B.2.5對(duì)黑度不大于4.5的各點(diǎn)的測(cè)量誤差均應(yīng)不超過士0.05，否則光學(xué)密度計(jì)應(yīng)重新調(diào)整、修理或 報(bào)廢。

附錄C （資料性附錄） 射線檢測(cè)操作指導(dǎo)書 檢測(cè)人員應(yīng)按照操作指導(dǎo)書對(duì)鑄件進(jìn)行射線檢測(cè)，操作指導(dǎo)書為雙方在檢測(cè)前共同認(rèn)可的工藝文 件。操作指導(dǎo)書的格式可參考表C.1。

表C.1射線檢測(cè)操作指導(dǎo)書

外徑D。大于100mm的環(huán)形鑄件100%透照，所需最少透照次數(shù)可從圖D.1～圖D.4中直接查出： 圖D.1為源在外單壁透照B級(jí)（K=1.1)的最少透照次數(shù)曲線圖； b） 圖D.2為用其他方式（偏心內(nèi)透和雙壁單影)透照B級(jí)（K=1.1)的最少透照次數(shù)曲線圖： 圖D.3為源在外單壁透照A級(jí)（K=1.2)的最少透照次數(shù)曲線圖； d 圖D.4為用其他方式（偏心內(nèi)透和雙壁單影）透照A級(jí)（K=1.2)的最少透照次數(shù)曲線圖，

D.2由圖確定透照次數(shù)的方法

計(jì)算出t/D。、D。/f（D。/F），在橫坐標(biāo)上找到t/D。值對(duì)應(yīng)的點(diǎn)，過此點(diǎn)畫一垂直于橫坐標(biāo)的直線： 在縱坐標(biāo)上找到D。/（D。/F)對(duì)應(yīng)的點(diǎn)，過此點(diǎn)畫一垂直于縱坐標(biāo)的直線；從兩直線交點(diǎn)所在的區(qū)域 確定所需的透照次數(shù)：當(dāng)交點(diǎn)在兩區(qū)域的分界線上，應(yīng)取較大數(shù)值作為所需的最少透照次數(shù)

包裝標(biāo)準(zhǔn)圖D.2其他方式（偏心內(nèi)透和雙壁單影）透照B級(jí)（K=1.1)的最少透照次數(shù)