3.4.1高溫老化試驗(yàn)恒溫結(jié)束后，打開(kāi)試驗(yàn)箱門(mén)自然降溫至80℃（試驗(yàn)箱的顯示溫度）以下后取出樣 品，置于磁通測(cè)量室在自然環(huán)境條件下冷卻至常溫，冷卻時(shí)間不小于2h。測(cè)量老化試驗(yàn)后的磁通（磁 偶極矩）值。 3.4.2高溫老化前后兩次磁通測(cè)量裝置及測(cè)量方式應(yīng)保持一致，兩次磁通測(cè)試的室溫偏差應(yīng)控制在

高溫磁通不可逆損失以（T)計(jì)，按公式（1)計(jì)算

d(T) 永磁體經(jīng)高溫T老化試驗(yàn)后恢復(fù)到室溫T。溫度下的磁通值（或磁偶極矩）文化標(biāo)準(zhǔn)，單位為韋 伯（Wb）或微韋伯厘米（μWb·cm）； Φ(T。) 永磁體高溫老化試驗(yàn)前在室溫T。溫度下的磁通值（或磁偶極矩），單位為韋伯（Wb） 或微韋伯厘米（μWb·cm）。 結(jié)果按GB/T8170規(guī)定進(jìn)行數(shù)值修約，通常保留至小數(shù)點(diǎn)后一位

不確定度數(shù)據(jù)是根據(jù)在2020年由7家試驗(yàn)室對(duì)14個(gè)不同水平樣品在2個(gè)試驗(yàn)條件下進(jìn)行共 確定的。每個(gè)實(shí)驗(yàn)室對(duì)每個(gè)樣品在重復(fù)性條件下獨(dú)立測(cè)定3次。共同試驗(yàn)數(shù)據(jù)按GB/T6379. 統(tǒng)計(jì)分析。

表2高溫磁通不可逆損失測(cè)量不確定度

表2高溫磁通不可逆損失測(cè)量不確定度（續(xù)）

實(shí)驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括以下部分： a）樣品的名稱(chēng)或材料牌號(hào)； b） 樣品的形狀、尺寸和數(shù)量； c 使用的高溫試驗(yàn)箱、磁通計(jì)及測(cè)試線圈編號(hào)，相應(yīng)校準(zhǔn)證書(shū)日期； 測(cè)試條件（包括高溫試驗(yàn)溫度和恒溫時(shí)間、前后兩次室溫測(cè)試溫度、開(kāi)路還是半開(kāi)路磁通老化 方式、樣品間距、半開(kāi)路磁通老化方式時(shí)所選試樣框板材厚度以及樣品磁極分布）； e） 本文件編號(hào)： f) 檢測(cè)日期； g） 與檢測(cè)有關(guān)的其他事項(xiàng)說(shuō)明

希士永磁體高溫磁通不可逆損失隨溫度變化的規(guī)行

GB/T40794202

地質(zhì)災(zāi)害標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范范本稀士永磁體高溫磁通不可逆損失隨溫度變化的

逆損失隨工作溫度變化趨勢(shì)是相同的。磁通不可逆

作溫度變化趨勢(shì)是相同的。磁通不可過(guò) 員失隨溫度的增加存在明顯拐點(diǎn)，在室溫至拐點(diǎn)溫度之前，磁通不可逆損失變化不明顯。 1.1.2開(kāi)路老化方式較半開(kāi)路老化方式在磁通不可逆損失隨溫度變化曲線上的拐點(diǎn)溫度略低。同 稀土永磁體試樣在開(kāi)路與半開(kāi)路磁通方式下的高溫磁通不可逆損失隨溫度變化的規(guī)律見(jiàn)圖A.1。 注1：燒結(jié)/熱壓釹鐵硼永磁體，高溫磁通不可逆損失多發(fā)生在高溫老化恒溫0.5h之內(nèi)，恒溫48h后不可逆損失仍 會(huì)以非常小的斜率隨恒溫時(shí)間延 密測(cè)量才可分辨

標(biāo)引序號(hào)說(shuō)明： 樣品置于1mm厚鐵板上的半開(kāi)路磁通方式： 一樣品置于玻璃板上的開(kāi)路磁通方式。

圖A.1同一稀土永磁體試樣在開(kāi)！ 規(guī)律（燒結(jié)釹鐵硼磁體，$10.055mm×2.017mm40SH.每溫度點(diǎn)恒溫2h）

抽樣標(biāo)準(zhǔn)表A.1高溫磁通不可逆損失 曲線拐點(diǎn)的位置之間的相互關(guān)系 10.055mmX2.01/mm

A.3磁通不可逆損失與磁體工作溫度的關(guān)聯(lián)

GB/T 40794—2021