GB／T 41119-2021  無損檢測(cè) 微磁檢測(cè) 總則

檢測(cè)儀器應(yīng)具有數(shù)據(jù)采集、數(shù)字信號(hào)調(diào)理和濾波、波形顯示、分析和存儲(chǔ)等功能，且至少滿足以下 要求： a 測(cè)量被檢對(duì)象表面的磁場(chǎng)/電磁場(chǎng)強(qiáng)度及其分布，磁場(chǎng)測(cè)量靈敏度不應(yīng)低于0.5mV/G 動(dòng)態(tài)電磁場(chǎng)測(cè)量的響應(yīng)時(shí)間不應(yīng)大于0.1S； C 顯示檢測(cè)信號(hào)； 給出被檢件狀態(tài)量化評(píng)價(jià)曲線； e 自動(dòng)存儲(chǔ)檢測(cè)結(jié)果及對(duì)應(yīng)檢測(cè)信號(hào)波形的原始數(shù)據(jù)

應(yīng)根據(jù)靜/動(dòng)態(tài)微磁檢測(cè)方法的要求，確定磁化裝置采用交流磁化或直流磁化，磁化場(chǎng)的強(qiáng)度利 應(yīng)能根據(jù)檢測(cè)對(duì)象可調(diào)。

7.4檢測(cè)設(shè)備的維護(hù)和校準(zhǔn)

應(yīng)制定書面程序，對(duì)檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行周期性維護(hù)，以保證設(shè)備功能；檢測(cè)儀器應(yīng)每年至少進(jìn)行一次 校準(zhǔn)。 校準(zhǔn)對(duì)象應(yīng)至少包括儀器主機(jī)、探頭和磁化裝置（如有）。儀器主機(jī)應(yīng)校準(zhǔn)主機(jī)增益與帶寬，探頭應(yīng) 采用標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)進(jìn)行靈敏度、精度和響應(yīng)速度的校準(zhǔn)，磁化裝置應(yīng)校準(zhǔn)磁化場(chǎng)的均勻度和強(qiáng)度

節(jié)能標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范范本GB/T411192021

資料審查應(yīng)包括以下內(nèi)容： a 被檢件的兒何形狀與尺寸、材質(zhì)、熱處理狀態(tài)（可選）、設(shè)計(jì)參數(shù)和使用環(huán)境： b 被檢件的磁化歷史和目前狀態(tài)； 被檢件的溫度、腐蝕和組織不均勻狀態(tài)： 被檢件制造文件資料，如產(chǎn)品合格證、質(zhì)量證明文件和峻工圖等： e 被檢件運(yùn)行記錄資料，如開停車情況、運(yùn)行參數(shù)、工作介質(zhì)、載荷變化情況和運(yùn)行中出現(xiàn)的異常 情況等； 歷次檢驗(yàn)檢測(cè)報(bào)告； g 其他資料，如修理和改造的文件資料等

應(yīng)對(duì)被檢件現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行勘察，找出可能影響檢測(cè)結(jié)果的因素，如磁化歷史及其區(qū)域、內(nèi)部或外部磁場(chǎng) 原、表面涂層和溫度情況等。在檢測(cè)時(shí)應(yīng)避免這些因素的干擾

對(duì)于每個(gè)檢測(cè)工程或每套被檢設(shè) 況，按照通用檢測(cè)工藝規(guī)程編制 驗(yàn)測(cè)作業(yè)指導(dǎo)書或工藝卡，確定檢測(cè)的方法、部位 面條件，同時(shí)對(duì)被檢件進(jìn)行測(cè)繪，對(duì)檢 測(cè)部位進(jìn)行編號(hào)，畫出被檢件結(jié)構(gòu)示意圖。 內(nèi)部或外部磁場(chǎng)干擾源

8.2檢測(cè)表面條件要求

被檢件檢測(cè)部位表面應(yīng)無大面積疏松的銹蝕層、焊疤及其他金屬連接結(jié)構(gòu)等；被檢件檢測(cè)部位表面 不應(yīng)有磁屏蔽材料、磁性涂層或包覆層，無磁性包覆層的最大允許厚度由試驗(yàn)方法及檢測(cè)儀器的靈敏度 確定。

可采用靜態(tài)微磁檢測(cè)、動(dòng)態(tài)微磁檢測(cè)或者組合檢

實(shí)施靜態(tài)微磁檢測(cè)應(yīng)遵循以下步驟： a）確定被檢件表面狀態(tài)，設(shè)置探頭和掃查覆蓋區(qū)域； ） 確定環(huán)境磁場(chǎng)的強(qiáng)度和方向，以及外加磁場(chǎng)（可選）形式、強(qiáng)度和方向； C 探頭置于被檢件固定測(cè)量點(diǎn)，待磁化場(chǎng)處于穩(wěn)定狀態(tài)，磁場(chǎng)/電磁場(chǎng)變化率不大于1%后，可開 始檢測(cè)； d 確定掃查方向和順序，確保100%覆蓋被檢區(qū)域；

實(shí)施靜態(tài)微磁檢測(cè)應(yīng)遵循以下步驟： a）確定被檢件表面狀態(tài)，設(shè)置探頭和掃查覆蓋區(qū)域； 確定環(huán)境磁場(chǎng)的強(qiáng)度和方向，以及外加磁場(chǎng)（可選)形式、強(qiáng)度和方向； 探頭置于被檢件固定測(cè)量點(diǎn)，待磁化場(chǎng)處于穩(wěn)定狀態(tài)，磁場(chǎng)/電磁場(chǎng)變化率不大于1%后，可 始檢測(cè)； d） 確定掃查方向和順序，確保100%覆蓋被檢區(qū)域；

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e）記錄被檢件表面完整的磁場(chǎng)/電磁場(chǎng)； f）在被檢件表面上確定存在不均勻區(qū)域的異常部位和信號(hào)畸變位置，并進(jìn)行標(biāo)識(shí)； g）必要時(shí)，對(duì)上述部位進(jìn)行交叉方向的掃查檢測(cè)

實(shí)施動(dòng)態(tài)微磁檢測(cè)應(yīng)遵循以下步驟： a）確定被檢件表面狀態(tài)，設(shè)置傳感器和掃查覆蓋區(qū)域； b) 確定外加磁場(chǎng)形式、強(qiáng)度、方向和施加區(qū)域： ） 確定磁化加載時(shí)序和強(qiáng)度，將探頭置于被檢件的表面； 確定測(cè)量位置、掃查方式，確保100%覆蓋被檢區(qū)域； 記錄被檢件表面完整的磁場(chǎng)/電磁場(chǎng)； 在被檢件表面上確定存在不均勻區(qū)域的異常部位和信號(hào)畸變位置，并進(jìn)行標(biāo)識(shí) 必要時(shí)，對(duì)上述部位進(jìn)行交叉方向的掃查檢測(cè)

8.7檢測(cè)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)分析與處理

在進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，應(yīng)對(duì)磁場(chǎng)的分布、強(qiáng)度和時(shí)序變化進(jìn)行實(shí)時(shí)分析。對(duì)于單軸應(yīng)力測(cè)量應(yīng)驗(yàn)證測(cè)量 的可靠性和穩(wěn)定性：對(duì)于非均勻性檢測(cè)應(yīng)標(biāo)識(shí)出異常區(qū)域

給排水工藝、技術(shù)9.1應(yīng)力測(cè)量及其分布的評(píng)價(jià)

單軸應(yīng)力測(cè)量的結(jié)果應(yīng)先確定環(huán)境磁場(chǎng)方向、預(yù)期應(yīng)力方向及測(cè)量環(huán)境等影響因素及測(cè)量磁場(chǎng)/電 滋場(chǎng)參數(shù)的有效性，按照檢測(cè)方法進(jìn)行應(yīng)力等效磁場(chǎng)的換算，給出單軸應(yīng)力的測(cè)量結(jié)果， 對(duì)于應(yīng)力分布的評(píng)價(jià)，應(yīng)根據(jù)測(cè)量的磁場(chǎng)參數(shù)進(jìn)行應(yīng)力大小、方向和性質(zhì)的換算，給出應(yīng)力分布云 圖.根據(jù)應(yīng)力分布云圖確定應(yīng)力分布不均勾區(qū)域或應(yīng)力分布曲線、應(yīng)力最大/小值和應(yīng)力分布不均句度

9.2組織結(jié)構(gòu)不均勻的評(píng)價(jià)

組織結(jié)構(gòu)的評(píng)價(jià)，應(yīng)根據(jù)測(cè)量的磁場(chǎng)參數(shù)等效磁導(dǎo)率作為評(píng)價(jià)最終參數(shù)，并與常規(guī)材料的相對(duì)磁導(dǎo) 率進(jìn)行比對(duì)確定組織結(jié)構(gòu)的類型及狀態(tài)。 組織結(jié)構(gòu)不均勻的評(píng)價(jià)，應(yīng)根據(jù)測(cè)量的磁場(chǎng)參數(shù)及其變化規(guī)律給出組織變化的比例及變化的趨勢(shì) 不應(yīng)根據(jù)測(cè)量的磁場(chǎng)參數(shù)進(jìn)行等效磁導(dǎo)率的換算獲取組織不均勻狀態(tài)

對(duì)于相變的檢測(cè)，應(yīng)給出相變的量化比例和區(qū)域，如同時(shí)存在應(yīng)力，應(yīng)根據(jù)應(yīng)力和相變的比例給出 材料性能狀態(tài)。 相變狀態(tài)的評(píng)價(jià)既要考慮應(yīng)力等效磁場(chǎng)，還應(yīng)考慮等效磁導(dǎo)率對(duì)測(cè)量到的磁場(chǎng)參數(shù)的作用，以確定 相變的狀態(tài)區(qū)域和相變形成的原因

對(duì)于應(yīng)力分布的檢測(cè)或應(yīng)力值的測(cè)量，可采用X射線衍射法或盲孔法進(jìn)行驗(yàn)證； 對(duì)于材料組織結(jié)構(gòu)變化的檢測(cè)，可采用金相檢驗(yàn)或硬度測(cè)試等其他方式進(jìn)行驗(yàn)證； 對(duì)于相變的檢測(cè)，應(yīng)采用金相檢驗(yàn)驗(yàn)證

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應(yīng)按檢測(cè)工藝規(guī)程的要求記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)和有 除此之外，還應(yīng)至少包括檢測(cè)報(bào)告中的內(nèi)容

檢測(cè)報(bào)告的內(nèi)容應(yīng)根據(jù)檢測(cè)要求制定硬度標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)至少包括以下 委托單位和檢測(cè)單位的名稱； b) 引用本文件編號(hào)； c 被檢件名稱及編號(hào)； d) 被檢件的材質(zhì)和熱處理狀態(tài)； e) 被檢件的磁化與受載歷史及目前的狀態(tài)； f) 被檢件的表面狀態(tài)描述； g） 檢測(cè)儀器和探頭型號(hào)及編號(hào)； 檢測(cè)方式及磁化方式； i) 檢測(cè)條件； j) 檢測(cè)部位示意圖； 磁場(chǎng)分布云圖； 1） 信號(hào)的異常部位示意圖； m）檢測(cè)結(jié)果； 檢測(cè)及審核人員簽名和檢測(cè)日期