GB/T 3323.1-2019 焊縫無損檢測 射線檢測 第1部分:X和伽瑪射線的膠片技術(shù)

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    6.8像質(zhì)計的類型與使用

    采用GB/T23901.1(絲型像質(zhì)計)或GB/T23901.2(階梯孔型像質(zhì)計)測定射線檢測圖像質(zhì)量。 像質(zhì)計放置時,應(yīng)優(yōu)先放置在被檢工件射線源側(cè)表面,且在焊縫被透照區(qū)中心鄰近母材處,緊貼工 件表面,只要幾何條件允許,像質(zhì)計標(biāo)記及鉛字F(如使用)應(yīng)位于有效評定區(qū)之外。 根據(jù)所使用的像質(zhì)計類型,應(yīng)注意以下兩種情況: a)使用絲型像質(zhì)計時,應(yīng)垂直于并橫跨焊縫放置,細(xì)絲朝外,其位置應(yīng)確保至少有10mm絲長顯 示在黑度均勻的區(qū)段(通常是鄰近焊縫的母材區(qū)域)。按7.1.6和7.1.7的透照布置曝光時,絲 型像質(zhì)計可平行于管環(huán)焊縫放置,絲影像不宜投影在焊縫影像上。 6) 使用階梯孔型像質(zhì)計時,像質(zhì)計的放置應(yīng)將所要求的孔號緊靠焊縫, 采用7.1.6和7.1.7透照布置時,像質(zhì)計可放置于射線源側(cè)或膠片側(cè)。只有當(dāng)像質(zhì)計無法放置于射 線源側(cè)時,才可放置于膠片側(cè),但應(yīng)至少通過一次對比試驗來確定影像質(zhì)量,方法是在射線源側(cè)和膠片 側(cè)各放置一個像質(zhì)計,采用相同的透照條件,觀察所得底片以確定像質(zhì)值。雙壁透照且像質(zhì)計放在膠片

    側(cè)時,不必作對比試驗。此時像質(zhì)值按表A.3~表A.12確定。 像質(zhì)計放置于膠片側(cè)時,應(yīng)緊貼像質(zhì)計放置鉛字“F”,并在檢測報告中注明。 如果采取相關(guān)措施能保證,相同被檢工件或區(qū)域透照部位是以相同的透照參數(shù)和透照技術(shù)進(jìn)行射 線檢測,且獲得的圖像對比度靈敏度沒有差異,則不必對每幅圖像進(jìn)行對比度靈敏度確定。具體的圖像 對比度靈敏度確定要求宜由合同各方商定。 外徑大于或等于200mm的管對接環(huán)焊縫,采用射線源中心法進(jìn)行周向透照時,宜在圓周方向上等 間隔放置至少三個像質(zhì)計

    底片的觀察條件應(yīng)滿足GB/T19802的要求, 通過觀察底片上的像質(zhì)計影像,確定可識別的最細(xì)絲徑編號或最小孔徑編號,以此作為像質(zhì)值。對 絲型像質(zhì)計,若在黑度均勻區(qū)域內(nèi)有至少10mm絲長連續(xù)清晰可見,則該絲視為可識別;對階梯孔型像 質(zhì)計,若階梯上有兩個相同直徑的孔,兩孔應(yīng)均可識別,則該階梯視為可識別。 在射線檢測報告中,應(yīng)注明所使用的像質(zhì)計類型、型號及所達(dá)到的像質(zhì)值

    按本部分實施射線檢測的人員 商定后進(jìn)行資格鑒定與認(rèn)證,取得 險測相關(guān)工業(yè)門類的資格等級證書, 行崗位專業(yè)培訓(xùn)和授權(quán)。

    通常情況下,焊縫射線檢測技術(shù)應(yīng)按圖1圖19的規(guī)定執(zhí)行。 膠片應(yīng)盡可能貼近被檢工件放置。 D。大于100mm,或t大于8mm,或焊縫寬度大于D。/4的管對接環(huán)焊縫,不宜使用圖11的雙壁 雙影橢圓透照技術(shù)。雙壁雙影橢圓透照時,若t/D。小于0.12,相隔90°透照2次,不滿足條件則相隔 20°或60°透照3次。橢圓影像最大間距處應(yīng)約為一個焊縫寬度。 外徑D。小于或等于100mm的管對接環(huán)焊縫,雙壁雙影橢圓透照有困難時,可按7.1.7采用垂直 透照技術(shù)(見圖12)相隔120°或60°透照3次。 采用圖11、圖13和圖14透照布置時,射線束入射角度應(yīng)盡可能小,但要防止上下兩側(cè)焊縫影像重 疊。在滿足7.6的前提下,采用圖13透照布置時,f應(yīng)盡可能小。像質(zhì)計和鉛字“F”應(yīng)緊貼膠片放置。 由于工件幾何形狀或材料厚度差等原因,經(jīng)合同各方商定,可采用其他透照技術(shù),7.1.9給出了其中 一種方法。對于截面厚度均勻的工件,不應(yīng)使用多膠片法來減少曝光時間。另外,可采用相同材料進(jìn)行 享度補(bǔ)償。 注:對接環(huán)焊縫100%透照時所需的曝光次數(shù)見附錄B

    射線源位于被檢工件一側(cè),膠片位于另一側(cè),見圖1

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    7.1.3單壁外透照法

    射線源位于被檢工件外側(cè),膠片位于內(nèi)側(cè),見圖2

    圖1縱縫單壁透照法的透照布置

    圖2環(huán)焊縫單壁外透照法的透照布置

    3插入式管座焊縫單壁外透照法的透照布置

    我源位于被檢工件內(nèi)側(cè)中心處,膠片位于外側(cè),見

    圖4安放式管座焊縫單壁外透照法的透照布置

    圖5環(huán)焊縫周向曝光的透照布置

    圖6插入式管座焊縫單壁中心透照法的透照布置

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    于被檢工件內(nèi)側(cè)偏心處,膠片位于外側(cè),見圖8~

    圖7安放式管座焊縫單壁中心透照法的透照布

    圖8環(huán)焊縫單壁偏心透照法的透照布置

    圖9插入式管座焊縫單壁偏心透照法的透照布置

    10安放式管座煌縫單壁偏心透照法的透照布置

    7.1.6雙壁雙影橢圓透照法

    7.1.7雙壁雙影垂直透照法

    射線源和膠片位于被檢工件外側(cè),射線 (射,見圖12

    位于被檢工件外側(cè),焊縫投影呈橢圓顯示,見圖1

    管對接環(huán)焊縫雙壁雙影橢圓透照法的透照布置

    7.1.8雙壁單影透照法

    射線源位于被檢工件外側(cè),膠片位于另 側(cè),見圖13~圖18

    圖12管對接環(huán)焊縫雙壁雙影垂直透照法的透照布置

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    縫雙壁單影透照法的透照布置(像質(zhì)計位于膠片

    圖14環(huán)煌縫雙壁單影透照法的透照布置

    縱縫雙壁單影透照法白

    16插入式管座焊縫雙壁單影透照法的透照布置

    )無邊緣補(bǔ)償?shù)耐刚詹贾?

    1.9不等厚工件透照法

    材料厚度差異較大,采用多膠片透照,見圖19.

    7.2管電壓和射線源的選擇

    7.2.1管電壓1000kV及以下的X射線機(jī)

    D)有邊緣補(bǔ)償?shù)耐刚詹贾?

    圖17角焊縫透照布置

    圖18角焊縫透照布置

    圖19多膠片技術(shù)透照布置

    為獲得良好的檢測靈敏度,宜選擇盡可能低的管電壓。圖20給出X射線透照不同材料和不同 時,所允許使用的最高管電壓,

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    對某些被檢區(qū)內(nèi)厚度變化較大的工件透照時,可使用高于圖20所示的管電壓。但要注意,管電壓 過高會導(dǎo)致檢測靈敏度降低。檢測鋼時最大允許提高50kV,檢測鈦時最大允許提高40kV,檢測鋁時 最大允許提高30kV。

    kV及以下X射線機(jī)透照不同材料和厚度所允許

    加瑪射線和1MeV以上的X射線充允許的透照厚度范圍見表2。 經(jīng)合同各方商定,采用Ir192時,最小透照厚度可降至10mm;采用Se75時,最小透照厚度可降至 5mm 對較薄的鋼工件,Se75、Ir192和Co60等伽瑪射線的檢測靈敏度不如X射線,但由于伽瑪射線源有 操作方便、易于接近被檢部位等優(yōu)點,當(dāng)使用X射線機(jī)有困難時,可在表2給出的透照厚度范圍內(nèi)使用 伽瑪射線源。 在某些特定的應(yīng)用場合,只要能夠獲得足夠高的圖像質(zhì)量,也允許將透照厚度范圍放寬。 用伽瑪射線檢測時,輸送射線源的 過總賺光時間的10%

    7.5.1金屬濾光板和準(zhǔn)直器

    為減少散射線的影響,射線束透照時應(yīng)盡可能對準(zhǔn)被檢區(qū)域。 采用Se75、Ir192和Co60射線源或存在邊緣散射時,可在工件與暗盒之間放置一個鉛質(zhì)濾光板濾 除散射線。根據(jù)透照厚度的不同.濾光板的厚度在0.5mm~2mm之間選擇

    7.5.2背散射的屏蔽

    當(dāng)采用新的透照布置時,應(yīng)在每個暗袋后背貼上鉛學(xué)“B”(高度大于或等于10mm,厚度大于或等 于1.5mm),以驗證背散射的存在與否。若底片出現(xiàn)該字符的較亮影像,表明散射線屏蔽不符合要求; 若此字符影像較暗或不可見,表明散射線屏蔽良好。 必要時,為防止散射線對膠片的影響,應(yīng)在膠片暗袋后貼附至少1mm厚的鉛板或至少1.5mm厚 錫板

    7.6 射線源一工件距離

    fmin與d和b有關(guān)。源尺寸應(yīng)按GB/T25758(所有部分)或EN12679測定。 當(dāng)源尺寸有兩個方向尺寸(如長、寬或長軸、短軸)時,應(yīng)取較大值。 f的選擇,應(yīng)使f/d符合式(1)和式(2): A級:

    f/d≥7.5·62 f /d ≥15 . 62/s

    當(dāng)b<1.2t,式(1)和式(2)及圖21中的6可由t取代。 fmin可按圖21的諾模圖確定。圖21是根據(jù)式(1)和式(2)作出的。 使用A級技術(shù)檢測平面型缺欠時,為使幾何不清晰度減小為原來的1/2,fmin應(yīng)按B級技術(shù)的要求 確定。 對裂紋敏感性大的材料有更為嚴(yán)格的技術(shù)要求時,應(yīng)選用靈敏度比B級更優(yōu)的技術(shù)進(jìn)行透照。 采用雙壁雙影橢圓透照技術(shù)(見7.1.6)或雙壁雙影垂直透照技術(shù)(見7.1.7)時,式(1)和式(2)及圖 21中的6值可取外徑D。。 采用雙壁單影透照技術(shù)(見7.1.8),在確定射線源一工件最小距離時,6值可取t。 射線檢測時,盡可能避免采用7.1.6~7.1.8規(guī)定的雙壁透照布置,優(yōu)先考慮7.1.4和7.1.5規(guī)定的單 壁透照布置。采用偏心透照法時(見7.1.5),允許的min減少值不宜超過規(guī)定值的20%;采用中心透照 法時(見7.1.4圖5),允許的fmin減少值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。在圖像質(zhì)量滿足要求的前提下,經(jīng)合 同各方商定可進(jìn)一步減少f

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    圖21確定射線源一工件最小距離fmin的諾模

    平板縱焊縫透照(圖1、圖15、圖17和圖18)和射線源偏心布置透照曲面焊縫(圖2圖4、圖8圖 16)時,為保證100%透照,其曝光次數(shù)宜按技術(shù)要求確定。 射線經(jīng)過厚度均勻評定區(qū)外端的斜向穿透厚度與中心束的透照厚度之比,A級應(yīng)不大于1.2,B級 應(yīng)不大于1.1。 底片上由于射線穿透厚度變化所引起的黑度值變化的范圍,其下限值不宜低于7.8規(guī)定的數(shù)值,同 時不宜高于觀片燈亮度所允許的最大黑度值。 工件被檢區(qū)域應(yīng)包括焊縫和熱影響區(qū),通常焊縫兩側(cè)應(yīng)檢測至少約10mm的母材區(qū)域。 對接環(huán)焊縫100%檢測時推薦的曝光次數(shù)見附錄B

    選擇的曝光條件宜使底片的黑度滿足表5的規(guī)定。

    當(dāng)觀片燈亮度滿足7.10規(guī)定時,可采用較高的底片黑度?稍u定的最天底片黑度取決于觀片燈及 其最大亮度(見GB/T19802)。觀片燈應(yīng)標(biāo)識出可評定的最大底片黑度。 灰霧度是指未經(jīng)曝光即進(jìn)行暗室處理的膠片的總黑度(片基十乳劑)。為避免膠片老化、顯影或溫 度等因素引起的灰霧度過大,應(yīng)定期從所使用的未曝光膠片中取樣驗證灰霧度,用與實際透照相同的暗 室條件進(jìn)行處理,所得的灰霧度不應(yīng)大于0.3。 采用多膠片透照,單張底片觀察評定時,每張底片的黑度應(yīng)滿足表5的規(guī)定。 采用多膠片透照,兩張底片重疊觀察評定時,單張底片的黑度應(yīng)不小于1.3,

    膠片的暗室處理按照膠片及化學(xué)藥劑制造商推薦的條件進(jìn)行,以獲得選定的膠片系統(tǒng)的性能。 應(yīng)注意溫度、顯影時間和沖洗時間。膠片處理應(yīng)按GB/T19348.2進(jìn)行定期檢查。射線底片上不 在由于膠片在制造、加工、曝光或暗室處理等過程中產(chǎn)生的缺陷而造成射線底片上的虛假顯示。

    底片的評定宜在光線暗淡的室內(nèi)進(jìn)行,觀片燈的亮度應(yīng)可調(diào),燈屏宜有遮光板遮擋非評定區(qū)。 應(yīng)滿足GB/T19802要求

    射線檢測后,應(yīng)對檢測結(jié)果及有關(guān)檢測參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)記錄,并填寫檢測報告,以便于任何情況下可 對檢測結(jié)果進(jìn)行查詢。 檢測報告應(yīng)至少包含以下信息: a) 檢測單位; b) 工件名稱; c) 材質(zhì); d) 熱處理狀況; e) 焊縫的坡口形式; f) 公稱厚度; g) 焊接方法; h) 檢測標(biāo)準(zhǔn),包括驗收要求; i) 射線檢測技術(shù)和等級,包括像質(zhì)計和要求達(dá)到的像質(zhì)值; j) 透照布置; k) 標(biāo)記;

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    1) 布片圖; m)射線源種類和焦點尺寸及所選用的設(shè)備; n) 膠片類型和系統(tǒng)分類等級、增感屏和濾光板; o) 管電壓和管電流,或射線源的類型和活度; p) 曝光時間和射線源一膠片距離; q) 膠片處理:手工或自動、顯影條件; r) 像質(zhì)計型號和位置; s) 檢測結(jié)果,包括底片黑度、像質(zhì)值; t) 合同各方商定的與本部分的差異說明; u) 相關(guān)責(zé)任人員的姓名、資格及簽字; v) 透照和檢測報告日期

    A.1單壁透照技術(shù):像質(zhì)計位于源側(cè)

    最低像質(zhì)值要求見表A.1~表A.4。

    表A.2階梯孔型像質(zhì)計

    表A.4階梯孔型像質(zhì)計

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    A.2雙壁雙影技術(shù):像質(zhì)計位于源側(cè)

    最低像質(zhì)值要求見表A.5~表A.8

    表A.6階梯孔型像質(zhì)計

    表A.8階梯孔型像質(zhì)訊

    表A.8階梯孔型像質(zhì)訊

    A.3雙壁單影或雙壁雙影技術(shù):像質(zhì)計位于膠片側(cè)

    最低像質(zhì)值要求見表A.9~表A.12

    表A.11絲型像質(zhì)計

    表A.10階梯孔型像質(zhì)訊

    表A.12階梯孔型像質(zhì)計

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    附錄B (規(guī)范性附錄) 對接環(huán)焊縫100%射線檢測的推薦曝光次數(shù)

    外徑天于100mm的對接環(huán)焊縫100%透照的推薦曝光次數(shù)見圖B.1~圖B.4。如要檢出工件中個 別橫向裂紋,還應(yīng)在圖B.1~圖B.4查出值的基礎(chǔ)上增加曝光次數(shù)

    B.2B級技術(shù)推薦曝光

    當(dāng)穿透厚度差與公稱厚度之比△t/t小于或等于10%(B級)時,推薦曝光次數(shù)見圖B.1和圖B.2 此技術(shù)有利于檢測出橫向裂紋

    圖B.1At/t=10%(B級)時,單壁外透照法最少曝光次數(shù)N與t/D。和D。/f的關(guān)系

    圖B.1At/t=10%(B級)時,單壁外透照法最少曝光次數(shù)N與t/D。和D。/f的關(guān)系

    最少曝光次數(shù)N與t/D。和D./SFD的關(guān)系

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    B.3A級技術(shù)推薦曝光次數(shù)

    當(dāng)穿透厚度差與公稱厚度之比△t/t小于或等于20%(A級)時,推薦曝光次數(shù)見圖B.3和圖B.4。 只有當(dāng)焊縫中出現(xiàn)橫向裂紋的可能性較小或此類缺欠還采用其他無損檢測方法檢測時,才推薦使用此 種技術(shù)。

    圖B.4At/t=20%(A級)時,偏心透照法和雙壁單影透照法透照環(huán)焊縫的 最少曝光次數(shù)N與t/D.和D./SFD的關(guān)系

    ....
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