DL／T 820.3-2020  管道焊接接頭超聲波檢測技術(shù)規(guī)程 第3部分：衍射時差法

TOFD數(shù)據(jù)分析時，用于選擇或顯示數(shù)據(jù)位置的十字交叉線，在B或D掃描上，該十字線交 還有一個用于擬合測量的曲線。

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點狀缺陷spotflaw 在D掃描數(shù)據(jù)圖上，指示長度不大于晶片直徑，且自身高度不可測量的埋藏缺陷 3.20 線性缺陷lineflaw 在D掃描數(shù)據(jù)圖上，其長度可以測出，且自身高度不可測量的埋藏缺陷。

肉制品標(biāo)準(zhǔn)4.2.1檢測設(shè)備應(yīng)能實現(xiàn)信號發(fā)射、接收、數(shù)據(jù)采集、存儲、顯示和分析功能。

4.2.3主機(jī)的性能至少應(yīng)符合下列規(guī)定：

a）TOFD檢測應(yīng)選用寬頻帶窄脈沖縱波探頭，探頭公稱頻率一般為2MHz～15MHz。 b）單個探頭實測中心頻率與公稱頻率差值應(yīng)在土10%以內(nèi)。一個探頭組中的兩個探頭應(yīng)具有相同 尺寸和公稱頻率，兩個探頭中心頻率差值應(yīng)在公稱頻率土10%以內(nèi)。 c）直通波波幅達(dá)到峰值時，直通波波幅在10%以上的周期數(shù)不應(yīng)超過2個。 d）精確定量時宜采用聚焦型探頭。 e）探頭可使用單晶片或晶片陣列。

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f）薄壁管焊接接頭宜采用短前沿楔塊。 g）楔塊與被檢測面耦合間隙不應(yīng)大于0.5mm

4.2.5掃查裝置應(yīng)符合下列規(guī)定

a）掃查裝置至少應(yīng)包括探頭夾持裝置和編碼器； b）探頭夾持裝置應(yīng)能調(diào)整和固定探頭以獲得需要的探頭中心間距； c）編碼器應(yīng)能適應(yīng)工作環(huán)境的要求，保證在檢測時能連續(xù)正常工作，掃查時能與數(shù)據(jù)采集同步； d）掃查裝置可采用電動或手動移動，能實施平行掃查和非平行掃查； e）檢測過程中掃查裝置應(yīng)能保證PCS中點與參考掃查線相對位置偏差不大于2mm； f 掃查裝置應(yīng)具有良好的往返重復(fù)性，在平板上500mm范圍內(nèi)往返掃查時，長度方向誤差和輯 線偏離不應(yīng)大于2mm。

附件可包括前置放大器和離線分析軟

）采用的前置放大器應(yīng)符合下列規(guī)定：

能對所使用的頻率范圍具有平滑的響應(yīng)； 一前置放大器連接在接收探頭后，放大器與接收探頭的連線應(yīng)盡可能短。 b）離線分析軟件應(yīng)符合下列規(guī)定： 能同時顯示A掃描信號和B掃描（或D掃描）顯示圖； 一能顯示檢測設(shè)置的主要參數(shù)，能實現(xiàn)深度校準(zhǔn)、直通波差分、對數(shù)據(jù)局部縮放、缺陷在 高度和長度方向上起止點的測量，以及數(shù)據(jù)和圖像的輸出等功能。用于測量的指針應(yīng)有 擬合功能。

4.3.1試塊包括對比試塊、盲區(qū)試塊和專用試塊。 4.3.2試塊的材質(zhì)應(yīng)符合DL/T820.1的相關(guān)規(guī)定，且不應(yīng)有大于Φ1.6mm平底孔當(dāng)量的缺陷存在。 4.3.3對比試塊的厚度應(yīng)為管道厚度的0.9倍～2倍；長度、寬度應(yīng)能滿足使用要求。 4.3.4當(dāng)檢測管道縱縫時，檢測面曲率半徑不小于150mm，可使用平面對比試塊；檢測面曲率半徑小 于150mm，應(yīng)使用曲率半徑為檢測面曲率半徑0.9倍1.5倍的曲面對比試塊。 4.3.5 5外徑不小于108mm的管道，對比試塊和盲區(qū)試塊還應(yīng)符合附錄A的規(guī)定。 4.3.6 直徑為32mm～108mm的管道對接接頭檢測，專用試塊還應(yīng)符合附錄B的規(guī)定。 4.3.7 外徑不小于159mm的管件相貫線焊接接頭，專用試塊可參考附錄C。

4.3.1試塊包括對比試塊、盲區(qū)試塊和專用試塊。 4.3.2試塊的材質(zhì)應(yīng)符合DL/T820.1的相關(guān)規(guī)定，且不應(yīng)有大于Φ1.6mm平底孔當(dāng)量的缺陷存在。 4.3.3對比試塊的厚度應(yīng)為管道厚度的0.9倍～2倍；長度、寬度應(yīng)能滿足使用要求。 4.3.4當(dāng)檢測管道縱縫時，檢測面曲率半徑不小于150mm，可使用平面對比試塊；檢測面曲率半徑小 于150mm，應(yīng)使用曲率半徑為檢測面曲率半徑0.9倍～1.5倍的曲面對比試塊。 4.3.5 5外徑不小于108mm的管道，對比試塊和盲區(qū)試塊還應(yīng)符合附錄A的規(guī)定。 4.3.6 6直徑為32mm～108mm的管道對接接頭檢測，專用試塊還應(yīng)符合附錄B的規(guī)定。 4.3.7 外徑不小于159mm的管件相貫線焊接接頭，專用試塊可參考附錄C。

4.4.1應(yīng)具有良好的潤濕性能和透聲性能，對管道無腐蝕、易清理，對環(huán)境無污染。 4.4.2在檢測環(huán)境的溫度下應(yīng)能保證穩(wěn)定可靠的耦合。 4.4.3儀器調(diào)校與檢測時應(yīng)采用相同的耦合劑。

檢測前應(yīng)查閱待檢管道制造、安裝等技術(shù)資料，如材質(zhì)規(guī)格、坡口形式及尺寸、焊接方法等；在 役設(shè)備檢測還應(yīng)了解設(shè)備運(yùn)行情況及歷次檢測結(jié)果。

檢測區(qū)域應(yīng)符合DL/T820.1的相關(guān)規(guī)定。

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5.3.1掃查面應(yīng)清除焊接飛濺、氧化物及油垢等影響檢測的異物，表面應(yīng)打磨露出金屬光澤 5.3.2焊縫兩側(cè)打磨寬度均不應(yīng)小于PCS+50mm，進(jìn)行平行掃查時應(yīng)將焊縫余高磨平

角度根據(jù)公稱厚度選擇，探頭組的數(shù)量根據(jù)分區(qū)情 不同厚度情況下，探頭參數(shù)的

表1不同厚度情況下的探頭參數(shù)設(shè)置

注：兩側(cè)母材公稱厚度不等時，管道公稱厚度t按薄壁一

5.4.2對管道縱縫進(jìn)行檢測時，探頭的選擇應(yīng)保證聲束的覆蓋與檢測靈敏度。 5.4.3有特殊要求時，可采用聚焦探頭。

5.4.2對管道縱縫進(jìn)行檢測時，探頭的選擇應(yīng)保證聲束的覆蓋與檢測靈敏度。 5.4.3有特殊要求時，可采用聚焦探頭。

5.4.2對管道縱縫進(jìn)行檢測時，探頭的選擇應(yīng)保證聲束的覆蓋與檢測靈敏度。

5.5.1檢測前應(yīng)測量并記錄鄰近焊縫兩側(cè)母材厚度。 5.5.2對公稱厚度大于50mm的管道對接接頭，應(yīng)按照DL/T820.2的方法使用直探頭對TOFD掃查聲 束經(jīng)過的母材區(qū)域進(jìn)行檢測，影響TOFD檢測結(jié)果的反射信號應(yīng)予以記錄

5.5.1檢測前應(yīng)測量并記錄鄰近焊縫兩側(cè)母材厚度。

6.1.1檢測分區(qū)應(yīng)根據(jù)管道公稱厚度按表1設(shè)置。 6.1.2分區(qū)設(shè)置少于表1的推薦值時，應(yīng)制作與管道規(guī)格、材質(zhì)相同或相近的試塊進(jìn)行驗證。試塊的 直徑、厚度與被檢管道相差不大于10%。試塊上參考反射體的布置應(yīng)符合附錄A的要求。 6.1.3需要對特定區(qū)域進(jìn)行檢測時，應(yīng)進(jìn)行專門的分區(qū)設(shè)置。

6.2.1PCS通常按照聲束交叉點位置在所檢測區(qū)域的三分之二處進(jìn)行設(shè)置，可以根據(jù)式（1）～式（3） 進(jìn)行計算。

.1PCS通常按照聲束交叉點位置在所檢測區(qū)域的三分之二處進(jìn)行設(shè)置，可以根據(jù)式（1）～式 行計算。

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分區(qū)檢測時，第一分區(qū)

式（1）式（3）中： 管道公稱厚度，單位為毫米（mm）； 第一分區(qū)的厚度，單位為毫米（mm）； 第n分區(qū)的厚度，單位為毫米（mm）； 第n分區(qū)的起始深度，單位為毫米（mm） 主聲束在管道中的折射角度，單位為度（9

PCS = xtxtan PCS, xt,xtanp

（1） 管道公稱厚度，單位為毫米（mm）； t一第一分區(qū)的厚度，單位為毫米（mm）； t第n分區(qū)的厚度，單位為毫米（mm)； t第n分區(qū)的起始深度，單位為毫米（mm）； β一一主聲束在管道中的折射角度，單位為度（°）。 6.2.2對于特定局部區(qū)域的檢測可以通過將聲束交叉點設(shè)置在該區(qū)域中心來計算PCS。 6.2.3對于兩側(cè)母材不等厚的焊接接頭、兩側(cè)放置探頭受到一定限制的焊接接頭以及為了減少盲區(qū)需 要增加掃查的焊接接頭，PCS設(shè)置應(yīng)根據(jù)探頭放置空間、聲束最大覆蓋區(qū)域和可能產(chǎn)生危害性缺陷的 位置等方面綜合考慮。分區(qū)檢測時，應(yīng)在試塊上對檢測區(qū)域的覆蓋情況進(jìn)行驗證。

6.3.1初始掃查可選用非平行掃查、偏置掃查和斜向非平行掃查。 6.3.2當(dāng)?shù)酌婷�區(qū)高度較大或聲束不能有效覆蓋檢測區(qū)域時，應(yīng)對相應(yīng)區(qū)域增加偏置掃查。 6.3.3需要檢測橫向缺陷時，可進(jìn)行斜向非平行掃查或沿著磨平的焊縫表面做平行掃查。 6.3.4缺陷的檢測與定量應(yīng)采用非平行掃查或偏置非平行掃查；需要精確測量缺陷自身高度與深度 時，宜采用平行掃查。 6.3.5偏置掃查時步進(jìn)偏移量宜設(shè)定為檢測區(qū)域?qū)挾鹊囊话牖驅(qū)嶒灤_定。

步進(jìn)應(yīng)根據(jù)公稱厚度按表2設(shè)置，有特殊要求時

6.5數(shù)據(jù)顯示、記錄范圍的設(shè)置

6.5.1公稱厚度不大于50mm時，數(shù)據(jù)顯示窗口起點應(yīng)在直通波前且不小于1μs，終點應(yīng)在底波一次 變形波后且不小于0.5μS。 6.5.2公稱厚度大于50mm時，最上分區(qū)數(shù)據(jù)顯示窗口起點應(yīng)在直通波前且不小于1μs，終點為該分 區(qū)最大深度；中間分區(qū)數(shù)據(jù)顯示窗口起點應(yīng)覆蓋上一分區(qū)厚度的25%，終點為該分區(qū)的最大深度；最 下分區(qū)數(shù)據(jù)顯示窗口起點應(yīng)覆蓋上一分區(qū)厚度的25%，終點應(yīng)在底波后且不小于0.5us。

6.5.3數(shù)據(jù)記錄范圍不應(yīng)小于數(shù)據(jù)顯示要求的

數(shù)據(jù)記錄范圍不應(yīng)小于數(shù)據(jù)顯示要求的范圍。

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信號平均化處理次數(shù)宜設(shè)定為1～4，隨機(jī)噪聲較大時可適當(dāng)增加，一般不應(yīng)大于16。

6.7脈沖重復(fù)頻率設(shè)置

脈沖重復(fù)頻率應(yīng)根據(jù)工件厚度和可能的最大掃查速度進(jìn)行設(shè)置，在允許的最大掃查速度下不 數(shù)據(jù)，且不出現(xiàn)幻影波。

.8.1檢測前應(yīng)對各探頭組進(jìn)行靈敏度設(shè)置。

6.8.2公稱厚度不大于50mm時，靈敏度可采用以下方法設(shè)置： a）使用對比試塊設(shè)置。使用尖角槽作為參考體時，可將較弱衍射信號波幅設(shè)定為滿屏高的40%～ 80%；使用橫孔作為參考體時，可將較弱的反射信號設(shè)定為滿屏高的80%。 b）使用被檢管道焊接接頭設(shè)置。應(yīng)將直通波波幅設(shè)定為滿屏高的40%80%；直通波不可用時， 可將底面波波幅調(diào)至滿屏高的80%，再增益20dB～32dB；當(dāng)直通波與底面波均不可用時， 可調(diào)整增益使晶�；夭ㄟ_(dá)到滿屏高5%~10%。 6.8.3公稱厚度大于50mm時，靈敏度采用以下方法設(shè)置： a）靠近檢測面的第一分區(qū)可采用將直通波波幅設(shè)定在滿屏高40%～80%或采用對比試塊設(shè)置靈 敏度。 b）其余分區(qū)應(yīng)采用對比試塊設(shè)置各通道靈敏度。使用尖角槽作為參考體時，可將所檢測分區(qū)較弱 衍射信號波幅設(shè)定為滿屏高的40%80%；使用橫孔作為參考體時，可將較弱的反射信號設(shè)定 為滿屏高的80%。 6.8.4直徑為32mm~108mm的管道對接接頭檢測靈敏度設(shè)置應(yīng)符合附錄B的規(guī)定。 6.8.5掃查靈敏度可根據(jù)管道表面狀況補(bǔ)償2dB~6dB。

檢測前應(yīng)使用附錄A的盲區(qū)試塊或等效試塊實測掃查面盲區(qū)高度和底面盲區(qū)高度。 掃查面盲區(qū)大于1mm時，應(yīng)采用A型脈沖反射法超聲檢測等有效無損檢測方法進(jìn)行補(bǔ)充檢領(lǐng) 底面盲區(qū)大于1mm時，可采用偏置掃查和A型脈沖反射法超聲檢測方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測。

8.1檢測區(qū)域的覆蓋性驗證

.1系統(tǒng)校驗可使用同一種試塊或被檢管道的同一部位，兩次校驗時的溫差不大于15℃。 .2每次檢測前、每工作4h和結(jié)束時均應(yīng)對靈敏度、深度、編碼器進(jìn)行校驗。如發(fā)生以下情況 新設(shè)置檢測參數(shù)，并應(yīng)對前次校驗后檢測的焊接接頭重新檢測。 a）靈敏度偏差大于6dB：

2.1系統(tǒng)校驗可使用同一種試塊或被檢管道的同一部位，兩次校驗時的溫差不大于15℃。 .2每次檢測前、每工作4h和結(jié)束時均應(yīng)對靈敏度、深度、編碼器進(jìn)行校驗。如發(fā)生以下情況 新設(shè)置檢測參數(shù)，并應(yīng)對前次校驗后檢測的焊接接頭重新檢測。 a）靈敏度偏差大于6dB

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b）深度偏差超過2%且大于1mm； c）編碼器校驗長度不應(yīng)小于500mm，位移偏差超過5%時。當(dāng)位移偏差不超過5%時，編碼器應(yīng) 重新進(jìn)行校準(zhǔn)，并對前次校驗后的檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行修正。 3.2.3下列情況之一應(yīng)對檢測系統(tǒng)重新進(jìn)行校驗： a）檢測參數(shù)變更； b）檢測系統(tǒng)改變； c）檢測人員認(rèn)為有必要時。

9.1環(huán)向接頭宜一次掃查完成，縱向接頭一次掃查長度不宜超過2m。分段掃查時兩次掃查之間以及 環(huán)向接頭起止應(yīng)有不少于25mm的重疊區(qū)域。 9.2掃查速度的選擇應(yīng)滿足數(shù)據(jù)采集的要求。 9.3掃查過程中，直通波飽和或噪聲信號超過滿屏高20%時，應(yīng)降低增益并重新掃查；直通波、底面 波、晶粒噪聲或波型轉(zhuǎn)換信號降低6dB以上時，應(yīng)提高增益并重新掃查。 9.4直徑為32mm~108mm的管道對接接頭檢測，按附錄B執(zhí)行。 9.5直徑不小于159mm的相貫線焊接接頭檢測，參照附錄C執(zhí)行。 9.6受檢測條件的限制，聲束無法全覆蓋需要檢測區(qū)域時，應(yīng)在記錄和報告中注明。

10.1.1對數(shù)據(jù)采集時的參數(shù)設(shè)置進(jìn)行復(fù)核。 10.1.2每個掃描顯示數(shù)據(jù)丟失量不超過單次掃查的5%，且不允許相鄰數(shù)據(jù)連續(xù)丟失

數(shù)據(jù)分析步驟如下： a）辨別缺陷信號與非缺陷信號； b）判定缺陷的類型； c）對缺陷進(jìn)行定位和定量。

10.3缺陷類型的判定

10.3.1缺陷類型的判定可根據(jù)波幅、相位、位置和顯示等信息進(jìn)行。 10.3.2表面開口缺陷判定： a）直通波斷開或減弱，存在下端點衍射信號，可判定為上表面開口缺陷： b）底波斷開或減弱，存在上端點信號，可判定為下表面開口缺陷； c）非耦合引起的底波與直通波同時減弱或斷開，可判定為貫穿性缺陷。 0.3.3埋藏缺陷判定： a） 既有上端點信號又有下端點信號的相關(guān)顯示，可判定為埋藏缺陷； b 只有上端點信號，直通波和底波均無關(guān)聯(lián)的顯示，自身高度不可測量，可判定為點狀缺陷或纟 性缺陷。 10.3.4 應(yīng)根據(jù)管道的材質(zhì)、焊接工藝、缺陷位置、尺寸和顯示等信息對缺陷性質(zhì)進(jìn)行判定，判定方 見附錄D。

10.4缺陷的定量與定位

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10.4.1指針應(yīng)放置在波幅不小于所測量信號峰值10%的波峰或波谷處測量缺陷的端點位置。 10.4.2缺陷的高度應(yīng)選擇厚度方向上高度最大值處進(jìn)行測量。該處的上下端點差值或端點與表面的差 值即為缺陷的高度。 10.4.3缺陷長度測量應(yīng)使用曲線指針進(jìn)行擬合。缺陷起點與終點在掃查方向上的距離為缺陷的指示 長度。 10.4.4缺陷相對于焊接接頭中心線的位置和方向可以通過至少兩次非平行掃查和建模計算來確定，或 者增加多次平行掃查來確定。

11缺陷評定及質(zhì)量分級

危害性缺陷包括貫穿性缺陷、裂紋、未熔合、未焊透等，不允許存在。 點狀缺陷的評定和分級。 a）點狀缺陷按評定區(qū)評定。評定區(qū)寬度為母材厚度，長度為150mm，焊接接頭長度小于150mm 時，按照實際長度比例折算。 b）允許的點狀缺陷的數(shù)量計算公式如下：

式中： N 一 允許的點狀缺陷數(shù)量； 質(zhì)量分級系數(shù)，I級時n=0.4，Ⅱ級時n=0.8； 管道公稱厚度，不等厚時以母材薄的一側(cè)計，單位為毫米（mm）。 4.條狀缺陷的分級。 a）焊接接頭的密集型點狀信號顯示按條形缺陷評定。 b）相鄰兩個缺陷在焊縫長度方向上間距小于長度較小者，并且焊縫厚度方向上間距小于缺陷高度 較小者時，按單個缺陷計，缺陷的長度和高度確定如下： 1）長度為相鄰缺陷的左右端點間距離； 2）高度確定：缺陷在掃查方向無重疊時，以較大的缺陷高度作為單個缺陷高度；缺陷在掃查 方向有重疊時，應(yīng)選擇重疊區(qū)間同一個指針位置的上缺陷的上端點和下缺陷的下端點間距 最大者為缺陷高度，若該高度小于這兩個相鄰缺陷的自身高度較大者時，以自身高度最大 者計。 c）焊接接頭中缺陷符合表3的限定時，質(zhì)量等級評定為I級。

11.4條狀缺陷的分級

3質(zhì)量等級為I級的焊接接頭中允許存在的缺

DL/T820.3—2020

DL/T820.32020

多個缺陷 單不缺陷應(yīng)符合本表的規(guī)定，還應(yīng)滿 意連續(xù)12t范圍內(nèi)缺陷系計長度不大子 于150mm；表面開口型缺陷的累計長度不應(yīng)超過焊接接頭總長度的5%，且不大于300mm。 母材不等厚的焊接接頭以較薄側(cè)公稱厚度計。 累計長度按多個缺陷的累計長度的要求。 自身高度不可測量的缺陷。

d）焊接接頭中缺陷符合表4的限定時，質(zhì)量等級為Ⅱ級。

d）焊接接頭中缺陷符合表4的限定時，質(zhì)量等級為II級。

表4質(zhì)量等級為IⅡI級的焊接接頭中允許存在的缺陷

檢測記錄及報告數(shù)據(jù)應(yīng)齊全、完整和準(zhǔn)確，并由檢測人員和相關(guān)責(zé)任人員簽字確認(rèn)。檢測記錄和 測報告除應(yīng)滿足DL/T820.1相關(guān)要求外，還應(yīng)至少包含如下內(nèi)容： a）執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)； b）檢測對象：名稱、規(guī)格、材質(zhì)、坡口形式、焊接方法、熱處理狀態(tài)、管道表面狀況等； c）檢測設(shè)備和器材：儀器型號及編號、探頭及塊、掃查裝置，試塊、耦合劑等； d）檢測條件：檢測分區(qū)數(shù)量、PCS設(shè)置、掃查方式設(shè)置、檢測靈敏度設(shè)置等； e）表面盲區(qū)高度； f）檢測部位（應(yīng)有示意圖）； g）檢測數(shù)據(jù)圖像、缺陷定量圖像； h）缺陷位置、缺陷尺寸（缺陷高度、指示長度等）及缺陷性質(zhì)； i）檢測結(jié)論。

A.1.1對比試塊的厚度

對比試塊的厚度一般為管道公稱厚度的0.9倍～2倍

A.1.2 參考反射體

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附錄A （規(guī)范性） 茶 塊

.2.1參考反射體的種類包括橫孔和尖角槽，尖角槽的截面形狀如圖A.1所示。使用多個反射體時， 以將反射體加工在一個試塊上，也可以加工在多個試塊上。 .2.26mm≤t≤25mm時，應(yīng)至少使用3個參考反射體，參考反射體的具體要求如下： a）底面應(yīng)設(shè)置一個矩形槽，長度X、高度h按表A.1執(zhí)行，寬度W不大于1mm； b）以掃查面下4mm處為圓心，設(shè)置一個Φ2×30mm的近表面?zhèn)瓤祝?c）試塊t/2處設(shè)置一個直徑最大為Da（按表A.2執(zhí)行）長度為45mm的側(cè)孔�；蛘咴趖/2處設(shè)置 一個長度不小于40mm、寬度不大于W（按表A.2執(zhí)行）的尖角槽（如圖A.1所示）。

表A.1表面矩形槽尺寸

圖A.1尖角槽截面圖

.2.325mm<<50mm時，應(yīng)至少使用4個參考反射體，參考反射體的具體要求如下： a）底面應(yīng)設(shè)置一個矩形槽，長度X、高度h按表A.1執(zhí)行，寬度W不大于1mm； b）以掃查面下4mm處為圓心，設(shè)置一個Φ2×30mm的近表面?zhèn)瓤祝?c）在試塊t/4和3t/4處分別設(shè)置一個直徑最大為D（按表A.2執(zhí)行），長度為L（按表A

行）的側(cè)孔�；蛘咴趖/4和3t/4處分別設(shè)置一個長度不小于40mm、寬度不大于W（按表A.2 執(zhí)行）的尖角槽（如圖A.1所示）

表A.2側(cè)孔直徑D.和尖角槽寬度W

表A.3側(cè)孔長度L（一）

a）底面應(yīng)設(shè)置一個矩形槽，長度X、高度h按表A.1執(zhí)行，寬度W不大于1mm； b）以掃查面下4mm處為圓心2018標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范范本，設(shè)置一個2×30mm的近表面?zhèn)瓤祝? 在每個厚度分區(qū)的1/4位置和3/4位置處分別設(shè)置一個直徑最大為Da（按表A.2執(zhí)行），長度 為L（按表A.4執(zhí)行）的側(cè)孔

表A.4側(cè)孔長度L（二

.2.5上述橫孔在一側(cè)相互于涉時可間隔分布在

A.2.1盲區(qū)試塊分掃查面盲區(qū)試塊和底面盲區(qū)試塊。 A.2.2掃查面盲區(qū)試塊的反射體為長度15mm，寬度不大于2.5mm的尖角槽（如圖A.1所示）；在壁 厚范圍內(nèi)，尖角槽的深度分別為1mm、2mm、4mm、6mm、8mm。

.2.1盲區(qū)試塊分掃查面盲區(qū)試塊和底面首區(qū)試塊。 1.2.2掃查面盲區(qū)試塊的反射體為長度15mm，寬度不大于2.5mm的尖角槽（如圖A.1所示）；在壁 享范圍內(nèi)，尖角槽的深度分別為1mm、2mm、4mm、6mm、8mm。 A.2.3底面盲區(qū)試塊應(yīng)符合下述規(guī)定： a）底面盲區(qū)試塊的外形如圖A.2所示。試塊兩端厚度t1、t2應(yīng)包含所檢測管道公稱厚度；上下表 面夾角α不大于4.5°，寬度應(yīng)能滿足檢測試驗時的需要。 b）所檢測壁厚處應(yīng)有反射體存在。反射體為長度L等于15mm，寬度W不大于2.5mm的尖角槽 （如圖A.1所示），反射體間距15mm；在壁厚范圍內(nèi)，尖角槽的深度分別為1mm、2mm、 4mm、6mm、8mm。 A.2.4掃查面盲區(qū)試塊反射體與底面盲區(qū)試塊反射體可以加工在同一個試塊上，也可以加工在不同的 式塊上：盲區(qū)試塊可根據(jù)需要檢測的厚度區(qū)間進(jìn)行分段制作。

A.2.3底面盲區(qū)試塊應(yīng)符合下述規(guī)定

DL/T820.32020

安全閥標(biāo)準(zhǔn)DL/T820.32020

圖A.2底面盲區(qū)試塊外形圖