黑度計可測的最大黑度值應不小于4.5。 首次使用或維修后使用，黑度計應使用標準密度片進行核查，以后每三個月至少核查一次。核查時 的測量值誤差應不超過土0.05。

觀片燈的主要性能應符合GB/T19802的有關規(guī)定。

曾感屏應滿足GB/T23910的要求，增感屏應光潔

濾光板應由鉛板制成，可裝在被檢工件和暗盒之間，也可裝在暗盒內(nèi)靠近射線源一側(cè)。 濾光板的厚度應為0.5mm、1mm、1.5mm和2mm。在0.5mm、1mm和1.5mm厚的濾光板一角上應鉆一個直 經(jīng)為3mm的孔，在2mm厚的濾光板一角上應鉆兩個直徑為3mm的孔。 為便于在底片評定發(fā)生疑問時查證原因，宜對濾光板編號。

體檢標準像質(zhì)計應符合JB/T7902的要求。 專用線型像質(zhì)計由線徑相同的金屬線組成

6.1.1管電壓500kV以下的X射線

為獲得良好的檢測靈敏度，應選用盡可能低的管電壓。使用管電壓500kV以下的X射線機時，x射線 穿透不同厚度鋼工件所允許使用的最高管電壓應符合圖1的規(guī)定。對某些被檢區(qū)內(nèi)厚度變化較大的工件， 透照時可使用稍高于圖1所示的管電壓，最大允許提高50kV。

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圖1不同透照厚度鋼允許的X射線最高透照管電壓

丫射線源所允許的透照厚度范圍見表2。 對較薄的工件，一般丫射線檢測的靈敏度不如X射線，但丫射線源具有操作方便、可達性好等優(yōu)點， 可在表2給出的透照厚度范圍內(nèi)使用射線源。 采用源在內(nèi)單壁透照方式時，Se75、Ir192最小透照厚度可降低到表2規(guī)定的下限值的一半。 采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證圖像質(zhì)量達到要求的前提下，Se75、Ir192最小透 照厚度可降低到表2規(guī)定下限值的一半。 使用Se75、Ir192源時，曝光時間應不超過18小時：使用Co60源時，曝光時間應不超過24小時

表2射線源所允許的透照厚度范圍

高能X射線所允許的透照厚度范圍見表3。

表3高能X射線源所允許的透照厚度范圍

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表4焊接接頭射線檢測膠片系統(tǒng)選用

表5鑄鋼件射線檢測膠片系統(tǒng)選用

應根據(jù)工件特點和相關的技術要求選擇適宜的透照方式。在任何可實施的情況下，應優(yōu)先采用單壁 透照方式，當單壁透照方式無法實施時，可采用雙壁透照方式。 公稱外徑D<90mm的環(huán)向焊接接頭宜采用雙壁雙影透照方式，包括垂直透照方式和傾斜透照方式。 當受空間條件限制，幾何不清晰度不滿足要求時，可采用雙壁單影透照方式。 縱向焊接接頭透照時，射線源應放置在焊縫中心截面上。 典型的焊接接頭透照方式見附錄D。全焊透角接接頭的透照方式應符合附錄A中的相關規(guī)定。鑄鋼件 透照方式應符合附錄B中的相關規(guī)定

透照時射線束中心宜垂直指向透照區(qū)中心，特殊情況下也可選擇有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向。 .3透照厚度比

透照厚度比為K值，見圖2和式（1）：

式中： 一射線束中心處透照厚度， mm; T/一 一射線束斜向透照最大厚度， mm

6.3.3.2透照厚度比的

透照厚度比應符合下列規(guī)定： 環(huán)向焊接接頭：K≤1.1； 縱向焊接接頭： K≤1.03 鑄鋼件：一般情況下，K1.1。

透照厚度比應符合下列規(guī)定： 環(huán)向焊接接頭：K≤1.1； 縱向焊接接頭：K≤1.03； 鑄鋼件：一般情況下，K≤1.1。

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圖2透照厚度比示意圖

次透照長度應以6.3.3中規(guī)定的透照厚度比K進行控制。環(huán)向焊接接頭所需的最少透照次數(shù)的確 定方法見附錄E。 D<90mm的環(huán)向焊接接頭，采用雙壁雙影透照方式時，透照方式和透照次數(shù)應符合以下要求： 當比值D。/t≤10，采用垂直透照方式； 當比值D。/t>10，采用傾斜透照方式或垂直透照方式； 傾斜透照方式（橢圓成像）至少應在互成90°方向透照2次，垂直透照方式（重疊成像）至 少應在互成60°或120°方向透照3次； 一傾斜透照方式（橢圓成像）時，影像的開口寬度x一般控制在3mm～15mm之間，如圖3所 示。

角接接頭的透照次數(shù)，可通過底片評定范圍內(nèi)的黑度間接控制。

6.4焊接接頭膠片技術

圖3傾斜透照方式（橢圓成像）時的影像開口寬度

根據(jù)膠片的組合，焊接接頭的膠片技術分為： 單片技術：將單張膠片或特性指標相同的兩張膠片裝在一個暗盒內(nèi)，采用單片觀察的方式； 雙片技術：將特性指標相同的兩張膠片裝在一個暗盒內(nèi)，采用疊合觀察的方式； 多片技術：將特性指標不同的兩張膠片裝在一個暗盒內(nèi)，或在一個暗盒內(nèi)裝有兩張以上特性 指標相同或不同的膠片，采用單片觀察或疊合觀察的方式。 檢測焊接接頭時，一般應采用單片技術或雙片技術。因厚度差異或材質(zhì)吸收系數(shù)差異，單片技術利 寸技術不能滿足黑度要求時，可采用多片技術。檢測同一道焊接接頭時，不應混用不同膠片技術。

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（2）計算幾何不清晰度

6.5.2幾何不清晰度值

除6.5.2.2和6.5.2.3規(guī)定的情況外 直應不超過表6中所列的數(shù)值，

表6一般情況幾何不清晰度允許的最大值

6.5.2.2其他情況

表7其他情況幾何不清晰度允許的最大值

6. 5. 2. 3特殊情況

使用Se75或Ir192源透照奧 角接接頭，且使用源在 內(nèi)透照方式時，射線源宜置于接管軸線上 此時 幾何不清晰度值應符合下列規(guī)定 接管公稱外徑D<250mm時，幾何不清晰度允許的最大值為0.6mm； 一接管公稱外徑D≥250mm時， 不清 青晰度允許的最大值為0.9mm 使用Ir192源對反應堆冷卻劑系統(tǒng)管道焊接接頭實施中心透照時，受透照條件限制不滿足表7要求 勺前提下，幾何不清晰度允許的

6.6. 1像質(zhì)計的選用

像質(zhì)計的材質(zhì)應與被檢工件相同或相似 或其射線吸收系數(shù)小于被檢材料 應按照8.4的要求選用像質(zhì)計。 般情況下，規(guī)定顯示的金屬線不應是所用像質(zhì)計的最小線徑

6.6.2像質(zhì)計的放置

像質(zhì)計宜放置在被檢區(qū)長度的1/4部位，金屬線應橫跨焊縫并與焊縫方向垂直，細

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單壁透照時，像質(zhì)計應優(yōu)先放置在射線源側(cè)，并緊貼工件表面，且位于厚度均勻的區(qū)域；若射線源 則無法放置像質(zhì)計，可放置在膠片側(cè)，并應在像質(zhì)計處放置一鉛制字母“F”，在這種情況下，應進行 對比試驗：在射線源側(cè)和膠片側(cè)各放置一個像質(zhì)計，用與工件相同的條件透照，觀察所得像質(zhì)計靈敏度 的差異，以此修正像質(zhì)計靈敏度要求。 采用雙壁單影透照方式時，像質(zhì)計應放置在膠片側(cè)。 采用雙壁雙影透照方式時，像質(zhì)計應放置在射線源側(cè)，并按下列要求放置： 金屬線應平行焊縫； 使用專用線型像質(zhì)計時，金屬線應橫跨焊縫，并與焊縫方向垂直。 在采用多片技術，以擴大一次透照厚度范圍時，應在被檢工件厚度較大處放置像質(zhì)計。 對于角接接頭，應將像質(zhì)計放置于能夠投影到的被檢區(qū)域上，若這個區(qū)域較寬，應盡可能將像質(zhì)計 放置于透照區(qū)的最厚處

6.6.3像質(zhì)計的數(shù)量

原則上每張底片上都應有像質(zhì)計的影像。 以中心透照方式檢測環(huán)向焊接接頭或圓筒形鑄件時，至少應間隔120°放置3個像質(zhì)計。 以全景透照方式檢測焊接接頭時，像質(zhì)計放置數(shù)量應滿足以下要求： 焊接接頭圓弧角度≤240°時，應在焊接接頭兩端及中間位置放置共3個像質(zhì)計； 焊接接頭圓弧角度>240°時，至少應間隔120°放置3個像質(zhì)計。

6.6.4像質(zhì)計影像識別

底片上能夠識別的最細金屬線的直徑即為像質(zhì)計靈敏度值。如底片黑度均勻部位能夠清晰看到長 度不小于10mm的連續(xù)金屬線影像，則認為是可識別的。使用專用線型像質(zhì)計時，應至少能識別兩根金屬 線。

焊接接頭和鑄鋼件檢測應選用金屬增感屏。 采用單片技術時，增感屏材質(zhì)和厚度應符合表8的規(guī)定。 采用雙片或多片技術時，增感屏的前屏和后屏選用應符合表8的規(guī)定，中屏的材質(zhì)和厚度應符合表 9的規(guī)定。采用X射線源時，每層中屏厚度應不大于前屏厚度。 若通過比較試驗證實能達到所要求的像質(zhì)計靈敏度，也可選用其他金屬材質(zhì)和厚度的增感屏

表8單片技術的增感屏選用

表9雙片或多片技術的中屏選用

NB/T20003.3—2021不銹鋼0. 25鉛0. 10高能X射線不銹鋼0. 25注：鉛制中屏的紙基兩側(cè)各粘貼一片鉛箔，表中所列數(shù)值為單片鉛箔厚度值。6.8濾光板的選用使用射線檢測焊接接頭和鑄鋼件的待焊區(qū)、補焊區(qū)時，應按表10的規(guī)定選用濾光板。表10濾光板的選用濾光板厚度透照厚度T/mmmm≤400. 540<7≤60160<≤801. 5 "T>802對于不銹鋼工件，濾光板厚度應為2mm6.9遮擋板和背散射線的防護6.9.1一般要求遮擋板應由一層或多層鉛板組成，它可緊貼于暗盒后部，也可裝在暗盒內(nèi)遠離射線源一側(cè)。遮擋板的厚度至少應為2mm。6.9.2背散射線的防護當首次檢測時，或檢測過程中工藝條件或環(huán)境發(fā)生改變時，應進行背散射線的防護驗證。背散射線防護驗證檢查方法：在暗盒與遮擋板間放置鉛制標記“B”，其厚度為1.5mm～2.5mm，按檢測規(guī)程進行透照和暗室處理，若底片上出現(xiàn)該標記的較亮影像，則應視為背散射線防護不合格；若此標記影像較暗或不可見，則可視為背散射線防護符合要求。6.10標記6.10.1被檢工件上的永久性標記工件上應作出永久性標記，確保每張底片能準確定位，且該標記不應妨礙被檢區(qū)域的底片評定。若因工件材料性質(zhì)或使用條件等原因，工件表面不宜作永久性標記時，應采用準確的透照部位簡圖或其他的有效方法進行標記。6.10.2底片上的識別標記每張射線底片上均應清晰地顯示出與透照相關的識別標記，如產(chǎn)品編號、焊接接頭或鑄件編號、部位編號、返修標記、透照日期等。識別標記一般可用鉛制字母或數(shù)字通過射線照相方式顯示。識別標記也可通過非射線照相方式標注。底片上所顯示的識別標記應位于有效評定區(qū)外。6.10.3底片上的定位標記當工件受檢區(qū)域需分段透照才可全覆蓋時，相鄰底片應有一定的搭接區(qū)域，以確保整個被檢區(qū)域均被透照。搭接區(qū)域以定位標記進行標識，定位標記應使用鉛制符號“1”、數(shù)字或字母表示。定位標記的放置部位應符合附錄G的規(guī)定。當由于結(jié)構(gòu)原因，應放置于射線源側(cè)的定位標記需要放置于膠片側(cè)時，檢測記錄和報告應標注實際的評定區(qū)域。6.11特殊情況的射線檢測技術焊道之間、隔離層以及插套焊接接頭等特殊情況的射線檢測技術應符合附錄H的規(guī)定，7膠片的暗室處理10

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般情況下，膠片的暗室處理應按膠片及化學藥劑制造商推薦的條件進行，以獲得選定的膠片系統(tǒng) 性能。可采用自動處理或手工處理方式。膠片手工處理的一般要求見附錄I。 硫代硫酸鹽離子濃度測定按下列要求進行： 將未曝光的膠片經(jīng)暗室處理后，采用膠片制造商推薦的溶液進行化學處理，處理后所得到的 圖像，與代表各種硫代硫酸鹽離子濃度的典型圖像，在日光下進行對比，據(jù)此評定硫代硫酸 鹽離子的濃度 一 測試工作應在膠片處理后的一周內(nèi)進行； 一測試的頻度由膠片處理人員決定，在此期間膠片暗室處理條件應保持不變。 暗室處理后的底片硫代硫酸鹽離子濃度一般應低于0.050g/m。若經(jīng)測定發(fā)現(xiàn)，硫代硫酸鹽離子濃 度大于等于0.050g/m，應停止暗室處理，并采取以下糾正措施： 一重新核查定影和沖洗工序是否滿足要求； 一重新測定硫代硫酸鹽離子濃度； 重新核查所有含有缺陷的底片。

識別標記和定位標記影像應顯示完整，位置正確

底片評定范圍內(nèi)不應存在干擾缺陷識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。

底片評定范圍內(nèi)不應存在干擾缺陷識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。

采用單片技術，單張底片最小黑度值應為2.0，最大黑度值應為4.5。下列情況時，單張底片最小黑 度值可降至1.5： 透照角接接頭； 一透照D<90mm環(huán)向焊接接頭（雙壁雙影透照方式） 采用雙片技術，疊合觀察時，評定范圍內(nèi)的最小黑度值應為2.7，最大黑度值應為4.5。同時，評定 范圍內(nèi)在兩張底片相同點所測得的黑度差應不超過0.5。 采用多片技術，任何單張底片評定范圍內(nèi)的黑度值應不低于1.3，疊合觀察時，評定范圍內(nèi)的最大 黑度值不超過4.5。 評定區(qū)的最大黑度限值允許提高，但觀片燈應經(jīng)過校準，觀片燈亮度應符合下列規(guī)定： 當?shù)灼�評定范圍內(nèi)的黑度不大于2.5時，透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應不低于30cd/m； 當?shù)灼�評定范圍內(nèi)的黑度大于2.5時，透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應不低于10cd/m

B.4底片的像質(zhì)計靈敏度

8. 4. 1. 1一般情況

除8.4.1.2和8.4.1.3規(guī)定的情況，下列情況時，底片的像質(zhì)計靈敏度應符合表11的規(guī)定： 采用單壁透照方式；

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表11一般情況焊接接頭的像質(zhì)計靈敏度要求

8.4.1.2其他情況

下列情況時，底片的像質(zhì)計靈敏度應符合表12的規(guī)定： 采用雙壁單影透照方式； 透照角接接頭。

表12其他情況焊接接頭的像質(zhì)計靈敏度要求

8.4.1.3特殊情況

下列情況時，對于t>80mm的對接接頭，應采用單壁透照方式 且底片的像質(zhì)計靈敏度應符合表13 的規(guī)定： 一蒸汽發(fā)生器二次側(cè)錐體和上、 下筒體之間的焊接接頭

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透照鑄鋼件時，底片的像質(zhì)計靈敏度應符合表14的規(guī)定。

表14鑄鋼件的像質(zhì)計靈敏度要求

9.1焊接缺陷評定及質(zhì)量分級

9. 1. 1缺降類型

圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進行質(zhì)量分級評定， ，圓形聯(lián)評定區(qū)為 見表15。圓形缺陷的評定區(qū)應選在缺陷最嚴重的區(qū)域。當缺陷與評定區(qū)邊界相接時，應將此缺陷劃入評 定區(qū)。 評定圓形缺陷時，應將缺陷尺寸按表16換算成缺陷點數(shù)，按表17和9.1.4的規(guī)定評定焊接接頭的質(zhì) 量級別。不計點數(shù)的缺陷尺寸見表18。

表15圓形缺陷評定區(qū)

表17圓形缺陷評定質(zhì)量分級

NB/T20003.3—2021I級123456IⅡI級369121518IⅢI級61218243036注：表中的數(shù)字是允許缺陷點數(shù)的限值，表18不計點數(shù)的缺陷尺寸缺陷長徑公稱厚度t/mmmm≤50≤0.5>50~100≤1% · t>100≤1. 59.1.3條形缺陷評定及質(zhì)量分級單個條形缺陷按表19和9.1.4的規(guī)定進行分級評定。表19單個條形缺陷評定質(zhì)量分級等級單個條形缺陷長度公稱厚度t/mmmmt≤61. 5I級66020t≤124II級126020t≤96IⅢI級94530注1：當母材公稱厚度不同時，t取較薄的厚度值。注2：當兩個或兩個以上條形缺陷處于同一直線上，且相鄰的間距小于或等于較短缺陷長度時，應作為單個缺陷處理，且間距也應計入缺陷的長度之中。注3：條形缺陷評定區(qū)是指一個與焊縫方向平行的、具有一定寬度的矩形區(qū)，t≤25mm，寬度為4mm；225mm100mm，寬度為8mm。注4：在長度為12t的任意選定條形缺陷評定區(qū)內(nèi)，若相鄰兩個條形缺陷間距不超過較大缺陷尺寸的6倍，則應把這兩個條形缺陷視作一組條形缺陷。9.1.4評定及質(zhì)量分級其他要求下列缺陷應評定為IV級：裂紋；未熔合；未焊透；咬邊；超過IⅢI級的圓形缺陷；尺寸大于t/2的圓形缺陷；超過IⅢI級的條形缺陷；累計長度超過t的一組條形缺陷。9. 2鑄鋼件缺陷評定和質(zhì)量分級14

鑄鋼件缺陷的評定和質(zhì)量分級要求應符合B.9中的相關規(guī)定。

射線檢測報告至少應包括下列內(nèi)容： 檢測單位、設備名稱及編號： 鑄件、焊接接頭或被檢區(qū)域的編號； 所用檢測文件； 檢測時機； 被檢工件的公稱厚度； 射線源的類型及尺寸； 膠片型號； 增感屏、濾光板的材質(zhì)和厚度； 像質(zhì)計的型號： 透照方式和焦距； 曝光時間； 膠片處理條件； 像質(zhì)計最小可見線徑； 檢測結(jié)果的評定； 檢測人員、審核人員的姓名和資格等級； 檢測日期和人員簽名。

NB/T 20003.32021

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A.1安放式接管角接接頭

全焊透角接接頭的透照方式

膠片置于接管內(nèi)，緊貼被檢管壁上，射線源置于接管外，偏離焊接接頭坡口軸線0°～10°，如圖 A.1所示。定位標記置于焊縫與母管交界處，以及接管外壁距焊縫邊緣10mm處。

A.2插入式接管角接接頭

圖A.1安放式接管角接接頭透照布置

膠片可置于母管的內(nèi)側(cè)或外側(cè)，射線源的位置要求如下： 膠片置于母管內(nèi)側(cè)時，射線源一般置于與接管母線呈20°～30°的軸線上，見圖A.2； 膠片置于管外側(cè)時，應將射線源置于接管中心軸線上，在空間可達的情況下，一般與接管中 心軸線呈20°～30°，見圖A.3。 定位標記放置于焊縫與接管交界處，以及母管外壁距焊縫邊緣10mm處，

A.2.2工件至膠片距離b的確定

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圖A.3插入式接管角接接頭透照布置（膠片置于

應按主平面方法和式（A.1）確定工件至膠片距離b： 主平面定義如下： 1）母管軸線與接管軸線構(gòu)成的截面，即母管縱向截面（直角部位）： 2）通過接管軸線與母管縱向截面垂直的截面，即母管橫向截面（邊緣部位）。 一工件至膠片距離b應按式（A.1）計算： b=(x+y)/2（錯誤！使用“開始”選項卡將附錄標識應用于要在 此處顯示的文字。.1) 式中x和y見圖A.4，它們應是上述兩主平面（直角部位和邊緣部位）中距離較大者。

應按主平面方法和式（A.1）確定工件至膠片距離b： 主平面定義如下： 1）母管軸線與接管軸線構(gòu)成的截面，即母管縱向截面（直角部位） 2）通過接管軸線與母管縱向截面垂直的截面，即母管橫向截面（邊緣部位）。 工件至膠片距離b應按式（A.1）計算： b=(x+y)/2（錯誤！使用“開始”選項卡將附錄標識應用于要在 處顯示的文字。，1) 式中x和y見圖A.4，它們應是上述兩主平面（直角部位和邊緣部位）中距離較大者。

圖A.4采用主平面法確定工件至膠片距離b

接接頭的厚度差較小，采用單片技術或雙片技術滿足底片黑度要求時，應進行一次透照。否則， 列方法：

若角接接頭的厚度差較小，采用單片技術或雙片技術滿足底片黑度要求時，應進行一次 應采用下列方法：

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采用多片技術進行一次透照； 一進行多次透照。

A.2.4大厚度角接接頭的透照

透照射線束最大穿透厚度大于100mm的插入式接管 角接接頭時，射線源應置于接管的軸線上，見圖 1.5。圖中所示陰影線的區(qū)域應達到規(guī)定的圖像質(zhì)量和黑度要求 為保證上述區(qū)域的有效透照，應確定一種被檢區(qū)域的定位方法，并作出圖示

注：應考慮到可能發(fā)生的各種偏差，允許在透照范圍內(nèi)留有一定的余地（圖中方格線部位），通過借助 示的定位標記確定被檢焊接接頭的表面位置。

圖A.5射線束最大穿透厚度大于100mm插入式接管角接接頭的透照布置

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鑄鋼件的射線檢測范圍應符合相關產(chǎn)品設計文件或采購技術文件的規(guī)定，應包括可檢測的最大體

石化標準閱類鑄鋼件射線檢測范圍典型示例（部面線區(qū)域

NB/T20003.32021

泵類鑄鋼件射線檢測范圍典型示例（部面線區(qū)域

除非相關產(chǎn)品設計文件或采購技術文件另有規(guī)定，鑄鋼件的射線檢測應在熱處理后進行。

除非相關產(chǎn)品設計文件或采購技術文件另有規(guī)定，鑄鋼件的射線檢測應在熱處理后進行。

根據(jù)膠片的組合，鑄鋼件的膠片技術分為： 單片技術：將單張膠片裝在一個暗盒內(nèi)，采用單片觀察的方式： 雙片技術：將特性指標相同的兩張膠片裝在一個暗盒內(nèi)，采用單片觀察或疊合觀察的方式； 多片技術：將特性指標不同的兩張膠片裝在一個暗盒內(nèi)，或在一個暗盒內(nèi)裝有兩張以上特性 指標相同或不同的膠片，采用單片觀察方式或疊合觀察方式。

螺釘標準B.4小直徑圓筒形鑄鋼件透照方式