NB／T 20003.3-2021  核電廠核島機(jī)械設(shè)備無損檢測(cè) 第3部分：射線檢測(cè)

膠片的灰霧度值應(yīng)不超過0.3。至少每六個(gè)月一次從一批生產(chǎn)條件相同且未經(jīng)曝光的膠片中抽取 個(gè)樣品，采用與實(shí)際檢測(cè)相同的暗室處理?xiàng)l件處理后，測(cè)量灰霧度值

5.3標(biāo)準(zhǔn)密度片和黑度計(jì)

5.3標(biāo)準(zhǔn)密度片和黑度訊

5. 3. 1 標(biāo)準(zhǔn)密度片

標(biāo)準(zhǔn)密度片應(yīng)至少有8個(gè)一定間隔的黑度基準(zhǔn)給排水圖紙，且能覆蓋0.3～4.5黑度范圍。 標(biāo)準(zhǔn)密度片應(yīng)至少每?jī)赡晷��?zhǔn)一次。

5. 3. 2 黑度計(jì)

黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度值應(yīng)不小于4.5。 首次使用或維修后使用，黑度計(jì)應(yīng)使用標(biāo)準(zhǔn)密度片進(jìn)行核查，以后每三個(gè)月至少核查一次。核查時(shí) 的測(cè)量值誤差應(yīng)不超過土0.05。

觀片燈的主要性能應(yīng)符合GB/T19802的有關(guān)規(guī)定。

曾感屏應(yīng)滿足GB/T23910的要求，增感屏應(yīng)光潔

濾光板應(yīng)由鉛板制成，可裝在被檢工件和暗盒之間，也可裝在暗盒內(nèi)靠近射線源一側(cè)。 濾光板的厚度應(yīng)為0.5mm、1mm、1.5mm和2mm。在0.5mm、1mm和1.5mm厚的濾光板一角上應(yīng)鉆一個(gè)直 經(jīng)為3mm的孔，在2mm厚的濾光板一角上應(yīng)鉆兩個(gè)直徑為3mm的孔。 為便于在底片評(píng)定發(fā)生疑問時(shí)查證原因，宜對(duì)濾光板編號(hào)。

像質(zhì)計(jì)應(yīng)符合JB/T7902的要求。 專用線型像質(zhì)計(jì)由線徑相同的金屬線組成

6.1.1管電壓500kV以下的X射線

為獲得良好的檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選用盡可能低的管電壓。使用管電壓500kV以下的X射線機(jī)時(shí)，x射線 穿透不同厚度鋼工件所允許使用的最高管電壓應(yīng)符合圖1的規(guī)定。對(duì)某些被檢區(qū)內(nèi)厚度變化較大的工件， 透照時(shí)可使用稍高于圖1所示的管電壓，最大允許提高50kV。

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圖1不同透照厚度鋼允許的X射線最高透照管電壓

丫射線源所允許的透照厚度范圍見表2。 對(duì)較薄的工件，一般丫射線檢測(cè)的靈敏度不如X射線，但丫射線源具有操作方便、可達(dá)性好等優(yōu)點(diǎn)， 可在表2給出的透照厚度范圍內(nèi)使用射線源。 采用源在內(nèi)單壁透照方式時(shí)，Se75、Ir192最小透照厚度可降低到表2規(guī)定的下限值的一半。 采用其他透照方式，在采取有效補(bǔ)償措施并保證圖像質(zhì)量達(dá)到要求的前提下，Se75、Ir192最小透 照厚度可降低到表2規(guī)定下限值的一半。 使用Se75、Ir192源時(shí)，曝光時(shí)間應(yīng)不超過18小時(shí)：使用Co60源時(shí)，曝光時(shí)間應(yīng)不超過24小時(shí)

表2射線源所允許的透照厚度范圍

高能X射線所允許的透照厚度范圍見表3。

表3高能X射線源所允許的透照厚度范圍

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表4焊接接頭射線檢測(cè)膠片系統(tǒng)選用

表5鑄鋼件射線檢測(cè)膠片系統(tǒng)選用

應(yīng)根據(jù)工件特點(diǎn)和相關(guān)的技術(shù)要求選擇適宜的透照方式。在任何可實(shí)施的情況下，應(yīng)優(yōu)先采用單壁 透照方式，當(dāng)單壁透照方式無法實(shí)施時(shí)，可采用雙壁透照方式。 公稱外徑D<90mm的環(huán)向焊接接頭宜采用雙壁雙影透照方式，包括垂直透照方式和傾斜透照方式。 當(dāng)受空間條件限制，幾何不清晰度不滿足要求時(shí)，可采用雙壁單影透照方式。 縱向焊接接頭透照時(shí)，射線源應(yīng)放置在焊縫中心截面上。 典型的焊接接頭透照方式見附錄D。全焊透角接接頭的透照方式應(yīng)符合附錄A中的相關(guān)規(guī)定。鑄鋼件 透照方式應(yīng)符合附錄B中的相關(guān)規(guī)定

透照時(shí)射線束中心宜垂直指向透照區(qū)中心，特殊情況下也可選擇有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向。 3. 3透照厚度比

透照厚度比為K值，見圖2和式（1）：

式中： 一射線束中心處透照厚度， mm; T/一 一射線束斜向透照最大厚度， mm

6.3.3.2透照厚度比的

透照厚度比應(yīng)符合下列規(guī)定： 環(huán)向焊接接頭：K≤1.1； 縱向焊接接頭： K≤1.03 鑄鋼件：一般情況下，K1.1。

透照厚度比應(yīng)符合下列規(guī)定： 環(huán)向焊接接頭：K≤1.1； 縱向焊接接頭：K≤1.03； 鑄鋼件：一般情況下，K≤1.1。

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圖2透照厚度比示意圖

次透照長(zhǎng)度應(yīng)以6.3.3中規(guī)定的透照厚度比K進(jìn)行控制。環(huán)向焊接接頭所需的最少透照次數(shù)的確 定方法見附錄E。 D<90mm的環(huán)向焊接接頭，采用雙壁雙影透照方式時(shí)，透照方式和透照次數(shù)應(yīng)符合以下要求： 當(dāng)比值D。/t≤10，采用垂直透照方式； 當(dāng)比值D。/t>10，采用傾斜透照方式或垂直透照方式； 傾斜透照方式（橢圓成像）至少應(yīng)在互成90°方向透照2次，垂直透照方式（重疊成像）至 少應(yīng)在互成60°或120°方向透照3次； 一傾斜透照方式（橢圓成像）時(shí)，影像的開口寬度x一般控制在3mm～15mm之間，如圖3所 示。

角接接頭的透照次數(shù)，可通過底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度間接控制。

6.4焊接接頭膠片技術(shù)

圖3傾斜透照方式（橢圓成像）時(shí)的影像開口寬度

根據(jù)膠片的組合，焊接接頭的膠片技術(shù)分為： 單片技術(shù)：將單張膠片或特性指標(biāo)相同的兩張膠片裝在一個(gè)暗盒內(nèi)，采用單片觀察的方式； 雙片技術(shù)：將特性指標(biāo)相同的兩張膠片裝在一個(gè)暗盒內(nèi)，采用疊合觀察的方式； 多片技術(shù)：將特性指標(biāo)不同的兩張膠片裝在一個(gè)暗盒內(nèi)，或在一個(gè)暗盒內(nèi)裝有兩張以上特性 指標(biāo)相同或不同的膠片，采用單片觀察或疊合觀察的方式。 檢測(cè)焊接接頭時(shí)，一般應(yīng)采用單片技術(shù)或雙片技術(shù)。因厚度差異或材質(zhì)吸收系數(shù)差異，單片技術(shù)利 寸技術(shù)不能滿足黑度要求時(shí)，可采用多片技術(shù)。檢測(cè)同一道焊接接頭時(shí)，不應(yīng)混用不同膠片技術(shù)。

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（2）計(jì)算幾何不清晰度

6.5.2幾何不清晰度值

除6.5.2.2和6.5.2.3規(guī)定的情況外 直應(yīng)不超過表6中所列的數(shù)值，

表6一般情況幾何不清晰度允許的最大值

6.5.2.2其他情況

表7其他情況幾何不清晰度允許的最大值

6. 5. 2. 3特殊情況

使用Se75或Ir192源透照奧 角接接頭，且使用源在 內(nèi)透照方式時(shí)，射線源宜置于接管軸線上 此時(shí) 幾何不清晰度值應(yīng)符合下列規(guī)定 接管公稱外徑D<250mm時(shí)，幾何不清晰度允許的最大值為0.6mm； 一接管公稱外徑D≥250mm時(shí)， 不清 青晰度允許的最大值為0.9mm 使用Ir192源對(duì)反應(yīng)堆冷卻劑系統(tǒng)管道焊接接頭實(shí)施中心透照時(shí)，受透照條件限制不滿足表7要求 勺前提下，幾何不清晰度允許的

6.6. 1像質(zhì)計(jì)的選用

像質(zhì)計(jì)的材質(zhì)應(yīng)與被檢工件相同或相似 或其射線吸收系數(shù)小于被檢材料 應(yīng)按照8.4的要求選用像質(zhì)計(jì)。 般情況下，規(guī)定顯示的金屬線不應(yīng)是所用像質(zhì)計(jì)的最小線徑

6.6.2像質(zhì)計(jì)的放置

像質(zhì)計(jì)宜放置在被檢區(qū)長(zhǎng)度的1/4部位，金屬線應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直，細(xì)線置于外側(cè)

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單壁透照時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)優(yōu)先放置在射線源側(cè)，并緊貼工件表面，且位于厚度均勻的區(qū)域；若射線源 則無法放置像質(zhì)計(jì)，可放置在膠片側(cè)，并應(yīng)在像質(zhì)計(jì)處放置一鉛制字母“F”，在這種情況下，應(yīng)進(jìn)行 對(duì)比試驗(yàn)：在射線源側(cè)和膠片側(cè)各放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)，用與工件相同的條件透照，觀察所得像質(zhì)計(jì)靈敏度 的差異，以此修正像質(zhì)計(jì)靈敏度要求。 采用雙壁單影透照方式時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在膠片側(cè)。 采用雙壁雙影透照方式時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在射線源側(cè)，并按下列要求放置： 金屬線應(yīng)平行焊縫； 使用專用線型像質(zhì)計(jì)時(shí)，金屬線應(yīng)橫跨焊縫，并與焊縫方向垂直。 在采用多片技術(shù)，以擴(kuò)大一次透照厚度范圍時(shí)，應(yīng)在被檢工件厚度較大處放置像質(zhì)計(jì)。 對(duì)于角接接頭，應(yīng)將像質(zhì)計(jì)放置于能夠投影到的被檢區(qū)域上，若這個(gè)區(qū)域較寬，應(yīng)盡可能將像質(zhì)計(jì) 放置于透照區(qū)的最厚處

6.6.3像質(zhì)計(jì)的數(shù)量

原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像。 以中心透照方式檢測(cè)環(huán)向焊接接頭或圓筒形鑄件時(shí)，至少應(yīng)間隔120°放置3個(gè)像質(zhì)計(jì)。 以全景透照方式檢測(cè)焊接接頭時(shí)，像質(zhì)計(jì)放置數(shù)量應(yīng)滿足以下要求： 焊接接頭圓弧角度≤240°時(shí)，應(yīng)在焊接接頭兩端及中間位置放置共3個(gè)像質(zhì)計(jì)； 焊接接頭圓弧角度>240°時(shí)，至少應(yīng)間隔120°放置3個(gè)像質(zhì)計(jì)。

6.6.4像質(zhì)計(jì)影像識(shí)別

底片上能夠識(shí)別的最細(xì)金屬線的直徑即為像質(zhì)計(jì)靈敏度值。如底片黑度均勻部位能夠清晰看到長(zhǎng) 度不小于10mm的連續(xù)金屬線影像，則認(rèn)為是可識(shí)別的。使用專用線型像質(zhì)計(jì)時(shí)，應(yīng)至少能識(shí)別兩根金屬 線。

焊接接頭和鑄鋼件檢測(cè)應(yīng)選用金屬增感屏。 采用單片技術(shù)時(shí)，增感屏材質(zhì)和厚度應(yīng)符合表8的規(guī)定。 采用雙片或多片技術(shù)時(shí)，增感屏的前屏和后屏選用應(yīng)符合表8的規(guī)定，中屏的材質(zhì)和厚度應(yīng)符合表 9的規(guī)定。采用X射線源時(shí)，每層中屏厚度應(yīng)不大于前屏厚度。 若通過比較試驗(yàn)證實(shí)能達(dá)到所要求的像質(zhì)計(jì)靈敏度，也可選用其他金屬材質(zhì)和厚度的增感屏

表8單片技術(shù)的增感屏選用

表9雙片或多片技術(shù)的中屏選用

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般情況下，膠片的暗室處理應(yīng)按膠片及化學(xué)藥劑制造商推薦的條件進(jìn)行，以獲得選定的膠片系統(tǒng) 性能�？刹捎米詣�(dòng)處理或手工處理方式。膠片手工處理的一般要求見附錄I。 硫代硫酸鹽離子濃度測(cè)定按下列要求進(jìn)行： 將未曝光的膠片經(jīng)暗室處理后，采用膠片制造商推薦的溶液進(jìn)行化學(xué)處理，處理后所得到的 圖像，與代表各種硫代硫酸鹽離子濃度的典型圖像，在日光下進(jìn)行對(duì)比，據(jù)此評(píng)定硫代硫酸 鹽離子的濃度 一 測(cè)試工作應(yīng)在膠片處理后的一周內(nèi)進(jìn)行； 一測(cè)試的頻度由膠片處理人員決定，在此期間膠片暗室處理?xiàng)l件應(yīng)保持不變。 暗室處理后的底片硫代硫酸鹽離子濃度一般應(yīng)低于0.050g/m。若經(jīng)測(cè)定發(fā)現(xiàn)，硫代硫酸鹽離子濃 度大于等于0.050g/m，應(yīng)停止暗室處理，并采取以下糾正措施： 一重新核查定影和沖洗工序是否滿足要求； 一重新測(cè)定硫代硫酸鹽離子濃度； 重新核查所有含有缺陷的底片。

識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記影像應(yīng)顯示完整，位置正確

底片評(píng)定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷識(shí)別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。

底片評(píng)定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷識(shí)別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。

采用單片技術(shù)，單張底片最小黑度值應(yīng)為2.0，最大黑度值應(yīng)為4.5。下列情況時(shí)，單張底片最小黑 度值可降至1.5： 透照角接接頭； 一透照D<90mm環(huán)向焊接接頭（雙壁雙影透照方式） 采用雙片技術(shù)，疊合觀察時(shí)，評(píng)定范圍內(nèi)的最小黑度值應(yīng)為2.7，最大黑度值應(yīng)為4.5。同時(shí)，評(píng)定 范圍內(nèi)在兩張底片相同點(diǎn)所測(cè)得的黑度差應(yīng)不超過0.5。 采用多片技術(shù)，任何單張底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度值應(yīng)不低于1.3，疊合觀察時(shí)，評(píng)定范圍內(nèi)的最大 黑度值不超過4.5。 評(píng)定區(qū)的最大黑度限值允許提高，但觀片燈應(yīng)經(jīng)過校準(zhǔn)，觀片燈亮度應(yīng)符合下列規(guī)定： 當(dāng)?shù)灼�評(píng)定范圍內(nèi)的黑度不大于2.5時(shí)，透過底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m； 當(dāng)?shù)灼�評(píng)定范圍內(nèi)的黑度大于2.5時(shí)，透過底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m

B.4底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度

8. 4. 1. 1一般情況

除8.4.1.2和8.4.1.3規(guī)定的情況， 采用單壁透照方式； D<90mm的管子對(duì)接接頭采用雙壁雙影透照方式

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表11一般情況焊接接頭的像質(zhì)計(jì)靈敏度要求

8.4.1.2其他情況

下列情況時(shí)，底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度應(yīng)符合表12的規(guī)定： 采用雙壁單影透照方式； 透照角接接頭。

表12其他情況焊接接頭的像質(zhì)計(jì)靈敏度要求

8.4.1.3特殊情況

下列情況時(shí)，對(duì)于t>80mm的對(duì)接接頭，應(yīng)采用單壁透照方式 且底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度應(yīng)符合表13 的規(guī)定： 一蒸汽發(fā)生器二次側(cè)錐體和上、 下筒體之間的焊接接頭

鑄鋼件缺陷的評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)要求應(yīng)符合B.9中的相關(guān)規(guī)定。

射線檢測(cè)報(bào)告至少應(yīng)包括下列內(nèi)容： 檢測(cè)單位、設(shè)備名稱及編號(hào)： 鑄件、焊接接頭或被檢區(qū)域的編號(hào)； 所用檢測(cè)文件； 檢測(cè)時(shí)機(jī)； 被檢工件的公稱厚度； 射線源的類型及尺寸； 膠片型號(hào)； 增感屏、濾光板的材質(zhì)和厚度； 像質(zhì)計(jì)的型號(hào)： 透照方式和焦距； 曝光時(shí)間； 膠片處理?xiàng)l件； 像質(zhì)計(jì)最小可見線徑； 檢測(cè)結(jié)果的評(píng)定； 檢測(cè)人員、審核人員的姓名和資格等級(jí)； 檢測(cè)日期和人員簽名。

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A.1安放式接管角接接頭

全焊透角接接頭的透照方式

膠片置于接管內(nèi)，緊貼被檢管壁上，射線源置于接管外，偏離焊接接頭坡口軸線0°～10°，如圖 A.1所示。定位標(biāo)記置于焊縫與母管交界處，以及接管外壁距焊縫邊緣10mm處。

A.2插入式接管角接接頭

圖A.1安放式接管角接接頭透照布置

膠片可置于母管的內(nèi)側(cè)或外側(cè)，射線源的位置要求如下： 膠片置于母管內(nèi)側(cè)時(shí)，射線源一般置于與接管母線呈20°～30°的軸線上，見圖A.2； 膠片置于管外側(cè)時(shí)，應(yīng)將射線源置于接管中心軸線上，在空間可達(dá)的情況下，一般與接管中 心軸線呈20°～30°，見圖A.3。 定位標(biāo)記放置于焊縫與接管交界處，以及母管外壁距焊縫邊緣10mm處，

A.2.2工件至膠片距離b的確定

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圖A.3插入式接管角接接頭透照布置（膠片置于

應(yīng)按主平面方法和式（A.1）確定工件至膠片距離b： 主平面定義如下： 1）母管軸線與接管軸線構(gòu)成的截面，即母管縱向截面（直角部位）： 2）通過接管軸線與母管縱向截面垂直的截面，即母管橫向截面（邊緣部位）。 一工件至膠片距離b應(yīng)按式（A.1）計(jì)算： b=(x+y)/2（錯(cuò)誤！使用“開始”選項(xiàng)卡將附錄標(biāo)識(shí)應(yīng)用于要在 此處顯示的文字。.1) 式中x和y見圖A.4，它們應(yīng)是上述兩主平面（直角部位和邊緣部位）中距離較大者。

應(yīng)按主平面方法和式（A.1）確定工件至膠片距離b： 主平面定義如下： 1）母管軸線與接管軸線構(gòu)成的截面，即母管縱向截面（直角部位） 2）通過接管軸線與母管縱向截面垂直的截面，即母管橫向截面（邊緣部位）。 工件至膠片距離b應(yīng)按式（A.1）計(jì)算： b=(x+y)/2（錯(cuò)誤！使用“開始”選項(xiàng)卡將附錄標(biāo)識(shí)應(yīng)用于要在 處顯示的文字。，1) 式中x和y見圖A.4，它們應(yīng)是上述兩主平面（直角部位和邊緣部位）中距離較大者。

圖A.4采用主平面法確定工件至膠片距離

接接頭的厚度差較小，采用單片技術(shù)或雙片技術(shù)滿足底片黑度要求時(shí)，應(yīng)進(jìn)行一次透照。否則， 列方法：

若角接接頭的厚度差較小，采用單片技術(shù)或雙片技術(shù)滿足底片黑度要求時(shí)，應(yīng)進(jìn)行一次 應(yīng)采用下列方法：

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采用多片技術(shù)進(jìn)行一次透照； 一進(jìn)行多次透照。

A.2.4大厚度角接接頭的透照

透照射線束最大穿透厚度大于100mm的插入式接管 角接接頭時(shí)，射線源應(yīng)置于接管的軸線上，見圖 1.5。圖中所示陰影線的區(qū)域應(yīng)達(dá)到規(guī)定的圖像質(zhì)量和黑度要求 為保證上述區(qū)域的有效透照，應(yīng)確定一種被檢區(qū)域的定位方法，并作出圖示

注：應(yīng)考慮到可能發(fā)生的各種偏差，允許在透照范圍內(nèi)留有一定的余地（圖中方格線部位），通過借助 示的定位標(biāo)記確定被檢焊接接頭的表面位置

圖A.5射線束最大穿透厚度大于100mm插入式接管角接接頭的透照布置

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鑄鋼件的射線檢測(cè)范圍應(yīng)符合相關(guān)產(chǎn)品設(shè)計(jì)文件或采購技術(shù)文件的規(guī)定工程監(jiān)理標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范范本，應(yīng)包括可檢測(cè)的最大體

閱類鑄鋼件射線檢測(cè)范圍典型示例（部面線區(qū)域

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建筑造價(jià)、預(yù)算、定額泵類鑄鋼件射線檢測(cè)范圍典型示例（部面線區(qū)域

除非相關(guān)產(chǎn)品設(shè)計(jì)文件或采購技術(shù)文件另有規(guī)定，鑄鋼件的射線檢測(cè)應(yīng)在熱處理后進(jìn)行。

除非相關(guān)產(chǎn)品設(shè)計(jì)文件或采購技術(shù)文件另有規(guī)定，鑄鋼件的射線檢測(cè)應(yīng)在熱處理后進(jìn)行。